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日本富士平fhk蛋壳用无损超声波测厚仪

日本富士平fhk蛋壳用无损超声波测厚仪

产品型号:

所属分类:物理性能检测仪

产品时间:2020-08-17

简要描述:日本富士平fhk蛋壳用无损超声波测厚仪
这是一种超声波测厚仪,可快速,高精度,无损地测量蛋壳的厚度,只需在蛋壳表面安装探头,即可以数字方式显示蛋壳的厚度,而无需进行任何操作。

详细说明:

日本富士平fhk蛋壳用无损超声波测厚仪

无损 
这是一种超声波测厚仪,可快速,高精度,无损地
测量蛋壳的厚度,只需在蛋壳表面安装探头,即可以数字方式显示蛋壳的厚度,而
无需进行任何操作。
 
测量规格
1。测量范围:0.10毫米至300毫米
2。精度:±0.01毫米
3。频率:0.5至20MHz
技术指标
1。电源鸡蛋重量:30g-100g±0.1g
2。电池蛋清高度:0毫米至11毫米±1毫米
3。外部尺寸:W190 x H50 x D270 mm
4。重量:1.9公斤
选项
数据印刷电路及打印机
制造商

德国卡多斯公司ECHOMETER1060

日本富士平fhk蛋壳用无损超声波测厚仪

无损 
这是一种超声波测厚仪,可快速,高精度,无损地
测量蛋壳的厚度,只需在蛋壳表面安装探头,即可以数字方式显示蛋壳的厚度,而
无需进行任何操作。
 
测量规格
1。测量范围:0.10毫米至300毫米
2。精度:±0.01毫米
3。频率:0.5至20MHz
技术指标
1。电源鸡蛋重量:30g-100g±0.1g
2。电池蛋清高度:0毫米至11毫米±1毫米
3。外部尺寸:W190 x H50 x D270 mm
4。重量:1.9公斤
选项
数据印刷电路及打印机
制造商

德国卡多斯公司ECHOMETER1060



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