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日本topcon-techno近红外分光辐射计SR-NIR

日本topcon-techno近红外分光辐射计SR-NIR

产品型号:

所属分类:光源

产品时间:2020-10-08

简要描述:日本topcon-techno近红外分光辐射计SR-NIR
近年来,在显示器及照明市场上,对“近红外领域"的测定需求日渐增多。
之前,行业内并没有一款能够简便且高精度测定近红外光的相关仪器。

详细说明:

日本topcon-techno近红外分光辐射计SR-NIR

 

产品概要

近年来,在显示器及照明市场上,对“近红外领域”的测定需求日渐增多。
之前,行业内并没有一款能够简便且高精度测定近红外光的相关仪器。
TOPCON在通过开发生产SR系列分光辐射度计所培育并积累起来的技术基础之上,
开发出了“SR-NIR近红外分光辐射度计”。
本产品和其他型号的SR系列分光辐射度计一并使用,能够测定380nm-1030nm的分光辐射亮度。

特点

■ 能测定从FPD到微弱发光的近红外领域。
■ 高精度测定近红外领域(600~1030nm)的分光分布。
■ 和本公司其他型号的分光辐射度计一并使用时,能够测定可见光~近红外光(380~1030nm)的分光分布。

主要用途

■ 观察各类FPD的近红外领域的输出。
■ 观察Ne、Ar的光谱线输出。
■ 光学膜等的近红外透过特性评价。
■ 其他光源的近红外分光测量

日本topcon-techno近红外分光辐射计SR-NIR

技术规格

光亮采集电子冷却型线性阵列传感器
波长分散原理衍射光栅
光学系统对物镜 : f= 82mm F2.5, 目镜 : 观测视野 5°
测定角2°/1°/0.2°/0.1° (电动切换式)
最小测定直径(mmφ)2° : 10.0, 1° : 4.99, 0.2° : 1.00, 0.1° : 0.50 (mmφ)
测定距离350mm – ∞ (从物镜金属件前端开始的距离)
测定波长范围600 – 1030nm
光谱波宽6 – 8nm (半波宽)
波长分解能力1nm
测定模式自动/手动 (积分时间/频率)、外部垂直同步信号输入
测定内容分光辐射亮度 : W・sr-1・m-2・nm-1
测定范围(*1)2.0° : 0.5 – 3,000 cd/m2
1.0° :  1 – 9,000 cd/m2
0.2° : 20 – 70,000 cd/m2
0.1° : 100 – 300,000 cd/m2
重复精度(*2)±2% 以下
偏光特性分光辐射亮度 5% 以下
校正基准本公司校正基准*标准A光源、23℃±3℃、65% RH以下
测定时间(*3)约 1 – 31 秒
界面RS-232C, USB 2.0
电源专用AC电源适配器 AC100V-240V, 50/60Hz,
功率约 34W
使用条件温度: 5 – 35℃, 湿度: 80%RH 以下 (且无凝露)
外形尺寸(W×D×H)150×406×239mm
质量约 5.5kg

*1 本产品不测定亮度。记录针对标准A光源的参考值
*2 600~1030nm 针对本公司基准光源
*3 E和PC的通信时间除外



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