日本topcon-techno近红外分光辐射计SR-NIR
近年来，在显示器及照明市场上，对“近红外领域”的测定需求日渐增多。
之前，行业内并没有一款能够简便且高精度测定近红外光的相关仪器。
TOPCON在通过开发生产SR系列分光辐射度计所培育并积累起来的技术基础之上，
开发出了“SR-NIR近红外分光辐射度计”。
本产品和其他型号的SR系列分光辐射度计一并使用，能够测定380nm-1030nm的分光辐射亮度。
￭ 能测定从FPD到微弱发光的近红外领域。
￭ 高精度测定近红外领域(600～1030nm)的分光分布。
￭ 和本公司其他型号的分光辐射度计一并使用时，能够测定可见光～近红外光（380～1030nm）的分光分布。
￭ 观察各类FPD的近红外领域的输出。
￭ 观察Ne、Ar的光谱线输出。
￭ 光学膜等的近红外透过特性评价。
￭ 其他光源的近红外分光测量
日本topcon-techno近红外分光辐射计SR-NIR
| 光亮采集 | 电子冷却型线性阵列传感器 |
|---|---|
| 波长分散原理 | 衍射光栅 |
| 光学系统 | 对物镜 : f= 82mm F2.5, 目镜 : 观测视野 5° |
| 测定角 | 2°/1°/0.2°/0.1° (电动切换式) |
| 小测定直径(mmφ) | 2° : 10.0, 1° : 4.99, 0.2° : 1.00, 0.1° : 0.50 (mmφ) |
| 测定距离 | 350mm – ∞ (从物镜金属件前端开始的距离) |
| 测定波长范围 | 600 – 1030nm |
| 光谱波宽 | 6 – 8nm (半波宽) |
| 波长分解能力 | 1nm |
| 测定模式 | 自动/手动 (积分时间/频率）、外部垂直同步信号输入 |
| 测定内容 | 分光辐射亮度 : W･sr-1･m-2･nm-1 |
| 测定范围(*1) | 2.0° : 0.5 – 3,000 cd/m2 1.0° : 1 – 9,000 cd/m2 0.2° : 20 – 70,000 cd/m2 0.1° : 100 – 300,000 cd/m2 |
| 重复精度(*2) | ±2% 以下 |
| 偏光特性 | 分光辐射亮度 5％ 以下 |
| 校正基准 | 本公司校正基准*标准A光源、23℃±3℃、65% RH以下 |
| 测定时间(*3) | 约 1 – 31 秒 |
| 界面 | RS-232C, USB 2.0 |
| 电源 | AC电源适配器 AC100V-240V, 50/60Hz, |
| 功率 | 约 34W |
| 使用条件 | 温度: 5 – 35℃, 湿度: 80%RH 以下 (且无凝露) |
| 外形尺寸(W×D×H) | 150×406×239mm |
| 质量 | 约 5.5kg |
*1 本产品不测定亮度。记录针对标准A光源的参考值
*2 600～1030nm 针对本公司基准光源
*3 E和PC的通信时间除外
