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日本朝日分光asahi-spectra光学膜厚仪

日本朝日分光asahi-spectra光学膜厚仪

产品型号: OMD-1000

所属分类:光源

产品时间:2020-10-10

简要描述:日本朝日分光asahi-spectra光学膜厚仪OMD-1000
这是一台光谱膜厚监测仪,用于监测在用单色光进行气相沉积过程中基板上的光量变化。它也用在我们自己的气相沉积设备中,并作为膜厚监测设备完成,该设备具有气相沉积零件制造商的专有技术。

详细说明:

日本朝日分光asahi-spectra光学膜厚仪OMD-1000

 

这是一台光谱膜厚监测仪,用于监测在用单色光进行气相沉积过程中基板上的光量变化。它也用在我们自己的气相沉积设备中,并作为膜厚监测设备完成,该设备具有气相沉积零件制造商的专有技术。

全波长范围

在传统型号中,波长选择是滤光片类型,但是新产品结合了我们成熟的光谱仪,现在可以选择任何波长。
膜厚变化的信号是从电压输出到与个人计算机兼容的数字输出,控制机制是从手动操作到个人计算机的命令控制。此外,通过将薄膜厚度计主体通过I / F直接连接到个人计算机来控制其厚度成为可能,这是一个非常紧凑的系统,无需像其他制造商一样具有控制器。

特征

  • 分光镜设计紧凑
  • 通过提高抗噪声性(静电放电测试耐受电压±5 kV)实现高度可靠的膜厚度监控
  • 可以通过PC上的命令自动控制
  • 通过将控制器合并到接收器主体中来实现高性价比

日本朝日分光asahi-spectra光学膜厚仪OMD-1000

产品规格

模型OMD-1000
光谱仪类型Zellny Turner类型单单色
波长范围保证范围:380至900 nm可操作
范围:350至1100 nm
波长分辨率狭缝0.5mm:4.2nm [546nm]
狭缝1.0mm:8.3nm [546nm]
波长精度±1.0纳米
最小波长进给0.1纳米
外部控制RS232C
外部输出端子DC0-2V(满量程)
采样间隔100ms以上
静电放电试验耐电压±5kV(实际8kV)
光源12V100W卤素灯
光强度稳定性±0.1%/ h以下
输入电压AC100V 50/60赫兹
允许输入电压AC85-132V
视在功率340VA以下
使用环境温度10-35℃
湿度20-80%


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