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台式膜厚测量系统

台式膜厚测量系统

产品型号: F3-CS

所属分类:测厚仪

产品时间:2021-06-16

简要描述:日本filmetrics台式膜厚测量系统F3-CS
F3-CS是测量小样品的最佳测量系统。与测量台集成的测量系统使其易于携带。
只需将样品的测量面朝下放置在载物台上即可进行测量,约1秒即可测量出膜厚和折射率。

详细说明:

日本filmetrics台式膜厚测量系统F3-CS

F3-CS是测量小样品的最佳测量系统。与测量台集成的测量系统使其易于携带。
只需将样品的测量面朝下放置在载物台上即可进行测量,约1秒即可测量出膜厚和折射率。

主要特点

  • 紧凑的尺寸
  • 轻松连接,仅 USB 连接
  • 光学常数分析(折射率/消光系数)

主要应用

光学镀膜硬涂层、防滴膜、聚对二甲苯等
平板有机膜等

日本filmetrics台式膜厚测量系统F3-CS

产品阵容

模型F3-CS-UVF3-CSF3-CS-近红外
测量波长范围190 – 1100nm380 – 1050nm950 – 1700nm

膜厚测量范围

3nm – 40μm15nm – 70μm100nm – 250μm
准确性*± 0.2% 薄膜厚度± 0.4% 薄膜厚度
1纳米2纳米3纳米

*取决于样品和测量条件

 



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