日本filmetrics台式膜厚测量系统F3-CS
F3-CS是测量小样品的最佳测量系统。与测量台集成的测量系统使其易于携带。
只需将样品的测量面朝下放置在载物台上即可进行测量，约1秒即可测量出膜厚和折射率。
紧凑的尺寸
轻松连接，仅 USB 连接
光学常数分析（折射率/消光系数）
| 光学镀膜 | 硬涂层、防滴膜、聚对二甲苯等 |
|---|---|
| 平板 | 有机膜等 |
日本filmetrics台式膜厚测量系统F3-CS
| 模型 | F3-CS-UV | F3-CS | F3-CS-近红外 |
|---|---|---|---|
| 测量波长范围 | 190 – 1100nm | 380 – 1050nm | 950 – 1700nm |
膜厚测量范围 | 3nm – 40μm | 15nm – 70μm | 100nm – 250μm |
| 准确性* | ± 0.2% 薄膜厚度 | ± 0.4% 薄膜厚度 | |
| 1纳米 | 2纳米 | 3纳米 | |
*取决于样品和测量条件
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