• SPA2-10CD日本h-repic半导体制造用视觉LED检查灯
    SPA2-10CD日本h-repic半导体制造用视觉LED检查灯

    日本h-repic半导体制造用视觉LED检查灯SPA2-10CD 型号:SPA2-10CD / SPA2-10CW / SPA2-10SD / SPA2-10SW 使用行业领xian的4芯片LED 我们*的恒流调光方法 结构可实现jia照明

    时间:2023-11-15型号:SPA2-10CD
  • LED Ages日本NCC用于内置设备的异物检查灯
    LED Ages日本NCC用于内置设备的异物检查灯

    日本NCC用于内置设备的异物检查灯LED Ages 它是一种可视化灯,可以照射更多的直射光,因为它使用了据说具有较高相对视觉灵敏度的绿光LED(峰值波长约为525 nm)和具有30度方向特性的枪式弹性LED。由于照射范围广,因此在膜接合工序,半成品的表面检查等中,可以观察到大约10μm的异物。

    时间:2023-11-15型号:LED Ages
  • 日本ncc超紧凑型紫外线检查灯Artel S UV
    日本ncc超紧凑型紫外线检查灯Artel S UV

    日本ncc超紧凑型紫外线检查灯Artel S UV 清洁后的残油通常是肉眼看不见的,并且会影响后续的涂层,粘合和组装。生产现场使用的油通常包含荧光物质,这些物质是发光的来源,通过用UV Artel S辐照,产品中残留的油会发光并且可以通过肉眼看到。它可以用作内部清洁场所质量改进的管理工具,而无需将剩余油含量的测量外包。

    时间:2023-11-15型号:
  • Quantum日本ncc便于携带的小型LED产品瑕疵检查灯
    Quantum日本ncc便于携带的小型LED产品瑕疵检查灯

    日本ncc便于携带的小型LED产品瑕疵检查灯Quantum 在诸如喷漆,印刷,精密装配和薄膜制造等场所,会发生许多由灰尘等粗颗粒引起的缺陷。然而,在正常情况下不能目视确认粗颗粒。因此,通过用产生直度和强光的“量子”照射产品和夹具的表面,很容易在视觉上检查粗颗粒。

    时间:2023-11-15型号:Quantum
  • Triton日本ncc用于检查设备的清洁度和灰尘粘附
    Triton日本ncc用于检查设备的清洁度和灰尘粘附

    日本ncc用于检查设备的清洁度和灰尘粘附Triton 在上漆,印刷,贴膜,精密装配等过程中,z常见的缺陷是外观缺陷。原因是工作现场浮起的灰尘以及附着在工作和设备上的灰尘。如果可以在视觉上预先观察到,但可见颗粒的大小为90μm或更大,可以采取对策。由于在喷涂过程中出现问题的颗粒尺寸约为10μm,因此无法通过肉眼观察到=无法采取任何对策。

    时间:2023-11-15型号:Triton
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