日本电测densoku涡流膜厚仪DMC-211/DS-110/D-20
测量了在非磁性金属（铝，铜，黄铜）上的非导电膜，在钢上的各种镀层，在非金属上的铜，镀银等，它们在基底和膜之间的导电性差异很大。它可以实现高度稳定和高精度的膜厚测量。
・可以在短时间内进行检查
・由于无损，因此非常适合100％检查
・采用晶体振动法，精度高
・可以测量10 nm以上的非金属沉积
日本电测densoku涡流膜厚仪DMC-211/DS-110/D-20
涡流膜厚仪DMC-211
高速和可操作性
短时间，无损测量适合100％检查
・在1秒内进行无损测量，非常适合100％检查
・使用个人计算机进行校准
・测量等简便操作・只需将探头放到测量对象上即可自动捕获测量值
・特性曲线（校准曲线）
每个通道注册了70个标准存储器，公司名称，零件号，批号
通过安装自动捕获模式，可以轻松测量膜厚。PC显示器。
数字显示测量值，读数
在短时间内（1秒以内），大多数金属上的膜（铝上的氧化膜，锌/铬镀层/铁上的油漆），大多数非金属上的金属膜（塑料上的镀层等）无损测量使其成为100％检查的理想选择。
使用个人电脑易于操作
通过使用个人计算机，诸如校准和测量的操作容易。可以选择各种测量模式，从而更容易测量小零件，例如螺钉头，线材和压铸产品。
配备[自动拍摄]模式
在[自动采集]模式下，您只需将探头放在要测量的对象上并释放它，就可以自动加载测量值。
特征曲线（校准曲线）的大量存储
作为标准配置，用于自动选择的70条特性曲线（校准曲线）存储在存储器中。如果您有用于特殊材料的标准板，则可以创建并输入新的特性曲线（校准曲线）。
渠道注册功能获取公司信息
可以为每个通道注册对方的公司名称，零件号和批号。
总频道：40个频道
配备统计处理功能
可以保存每个通道的测量数据，然后可以设置统计项目并进行统计处理。
测量单位
测量单位为毫米，微米，密耳，密耳。
单位可以随时更改，测量值将自动转换。
| 当使高频电流通过的探针（测量元件线圈）接近金属时，在金属表层产生涡电流。该涡电流受高频磁场的强度，频率，金属的电导率，厚度，形状等的影响，并且穿透深度和其尺寸不同。 涡流流动从而抵消了探头的高频磁场，因此探头的高频电阻值发生了变化。高频电阻变化的幅度通常与薄膜厚度不成比例，因此请将其与内部或用户创建的特性曲线（校准曲线）进行比较，然后将其转换为薄膜厚度值。显示它。 |
| 型号（主体） | Dermes DMC-211型 |
| 原理 | 涡流法 |
| 测量方式 | 厚度测量 |
| 通道数 | 40个频道 |
| 资料容量 | 100,000个数据 |
| 显示 | 通过电脑监控画面 |
| 统计处理 | 大值，小值，平均值，标准差，直方图，上限和下限设置 |
| 电源供应 | AC100-240V，50 / 60Hz 10VA（主体） |
| 重量 | 3.0公斤 |
| 尺寸 | 280（宽）x 230（深）x 88（高）毫米 |
（注）规格如有变更，恕不另行通知。
| 1. 探头有效范围使用超细探头时 | φ5毫米 φ3毫米 |
| 2.探针线的长度 | 900毫米 |
| 3.根据导轨的类型可以在曲面上进行测量 | |
| 4.探头类型 | MP型...用于平凹曲面（标准） SM型...用于平凹曲面（超细） RP型...凹曲面，管道内表面 SR型…小直径管道内表面对于 上述探头，A，B有四种类型，C和D。 |
| 5.探针指南 | ＃180：用于平面测量 ＃120：用于直径25-60mm的凸曲面测量 |
涡流膜厚仪DS-110
您可以测量曲面和球体以及管道内部。
涡流膜厚仪D-20
便携式且紧凑。只需更换刻度盘，它就可以用作的测量仪器。
