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日本中央电机cew微缺陷检测设备

日本中央电机cew微缺陷检测设备

产品型号:

所属分类:探伤仪

产品时间:2021-03-29

简要描述:日本中央电机cew微缺陷检测设备
使用高分辨率相机和高精度XY载物台的二维检查设备。
适用于检查光学膜,片,触摸面板等的表面划痕,异物和缺陷。

详细说明:

日本中央电机cew微缺陷检测设备

 

使用高分辨率相机和高精度XY载物台的二维检查设备。
适用于检查光学膜,片,触摸面板等的表面划痕,异物和缺陷。
光学分辨率为“ 1.8μm”,可以进行超高清检查。
它也可以用于尺寸测量,并且可以检查二维冲压产品。

特征

  • 检查数据和图像自动保存
  • 相机像素数:900万像素
  • 高光学分辨率(1.8μm)使精美的检查点看起来更漂亮
  • 非常适合检查触摸屏的外围电极,印刷电路板上的细线断线和短路

检查使用

用于检查触摸屏和异物等缺陷!

  • 触摸屏周边电极缺陷检查
  • 板材表面划痕,异物检查
  • 板缺陷检查

规格

外形尺寸1000 x 1200 x 1080毫米
重量400公斤
测量范围600 x 400毫米
被测物体的最大高度30毫米
光学分辨率1.8微米
控制分辨率1.0微米
重复定位精度±5微米
光学倍率2次
视场6.3毫米x 5.0毫米
监视器TFT 23.6型宽
分辨率:1920 x 1080像素
相机CCD单色1英寸
像素数:900万像素
镜片
远心镜头 WD:65毫米
景深0.095毫米
照明同轴落射照明
电源AC100V 50/60赫兹
开发语言LabVIEW

日本中央电机cew微缺陷检测设备

光学分解能1.8μm・スピード検査 タッチパネス周辺電極・基板表面など、微細欠陥の検査が可能

高解像度カメラと高精度X-Yステージを用いた二次元の検査装置です。
光学フィルム、シートやタッチパネルなどの表面キズ、異物の検査や欠陥検査に適しています。
光学分解能「1.8μm」で、非常に高精細な検査が可能です。
寸法測定にも対応でき、二次元の打ち抜き加工品などの検査もできます。



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