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日本nanogray X射线测厚仪SX-1100系列

日本nanogray X射线测厚仪SX-1100系列

产品型号:

所属分类:超声波测厚仪

产品时间:2021-04-01

简要描述:日本nanogray X射线测厚仪SX-1100系列
使用软X射线(软X射线)的厚度计(膜厚度计)。以非接触方式(软X射线)测量薄片和板状物体的厚度和密度(基本重量)。通过直接与参考物质比较来计算厚度和密度(基本重量),而不是直接测量厚度。

详细说明:

日本nanogray X射线测厚仪SX-1100系列

使用软X射线(软X射线)的厚度计(膜厚度计)。以非接触方式(软X射线)测量薄片和板状物体的厚度和密度(基本重量)。通过直接与参考物质比较来计算厚度和密度(基本重量),而不是直接测量厚度。
 通常,为了测量片材的宽度方向上的厚度分布,检测系统由扫描仪携带并进行测量。通常使用激光位移计作为不接触地测量厚度的手段,但是如果将激光位移计安装在扫描仪上,则其传送的精度远远低于激光位移计的精度,从而导致结果。高精度测量是困难的。
 另一方面,在诸如X射线厚度计之类的通过透射衰减来估计厚度的方法中,测量了空气层-样品-空气层与透射之间的衰减,但是由于样品引起的衰减很大。比空气的厚度大,运输的影响仅表现为空气层厚度的变化,并且影响很小。因此,可以高精度地进行测量。

软X射线测厚仪的一般功能

  1. 无需任命放射线处理负责人或X射线工作负责人,也无需设置受控区域
    (需要通知nao工标准检查办公室)
  2. 路径错误可以忽略
  3. 高元素依赖性

与传统的软X射线测厚仪相比,我们的软X射线测厚仪的功能

  1. 检测单元和X射线源单元结构紧凑,重量轻,甚至可以安装在狭窄的地方。
  2. 测量范围广(材料/厚度)

采用

  • 铜箔,铝箔,不锈钢箔
  • 电池电极
  • 陶瓷(薄板,薄饼)
  • 玻璃纤维布

日本nanogray X射线测厚仪SX-1100系列

X射线测厚仪SX-1100

X射线测厚仪SX-1100的规格
 
物品规格
姓名X射线测厚仪SX-1100
测量方法X射线透射法
检测方式闪烁检测器方法
被测物根据测量目标(如薄膜和箔纸)的z佳设计
测量间距标准2mm(可提供更细的间距)
扫描宽度标准150-3000mm(也可提供其他宽度)
扫描速度15-300毫米/秒(标准)
框架结构O型等各种镜框
光斑尺寸约φ7.5mm(标准)(工作时)
X射线源70 x 83毫米x 250毫米(标准)
检测单元70 x 83毫米x 220毫米(标准)
电源100V单相1kVA
     


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