日本ourstex在线膜厚分析仪OURSTEX 100TA-F
引入利用我们的非破坏性分析技术的在线膜厚分析仪。
【特征】 ●可以进行在线膜厚分析 ●电源仅AC100V，节电装置 ●可以根据应用自由定制 ●配备SDD检测器，无需液氮或冷却水 [应用示例] ●高性能成膜膜的在线膜厚分析 ●在线分析金属叶 ●在线分析溶液和液体等。
| 测量原理 | 能量色散X射线荧光分析方法 |
| 测量目标 | 电影 |
| 电源供应 | AC100V-240V |
| 安装环境温度 | 5-27℃ |
| 设备冷却 | 水冷* 1 |
| X射线额定输出 | 40kV，1.0mA，最大40（W） |
| 探测器 | SDD（硅漂移检测器） |
| 计数电路 | DSP（数字信号处理器） |
| 测量头尺寸 | 温度：5至27°C 266（W）x 136（D）x 160（H）mm * 2 |
* 1：测量头（内部）要进行水冷。
* 2：如有变更，恕不另行通知。
日本ourstex在线膜厚分析仪OURSTEX 100TA-F
【特 徴】 ● インラインで膜厚の分析が可能 ● 電源はAC100Vのみ、省電力装置 ● 用途に合わせて自在にカスタマイズ可能 ● SDD検出器搭載で液体窒素や冷却水は不要 【応 用 例】 ● 高機能成膜フィルムのインライン膜厚分析 ● 金属箔のインライン分析 ● 溶液・液体のインライン分析etc
| 測定原理 | エネルギー分散型蛍光X線分析法 |
| 測定対象 | フィルム |
| 電源 | AC100V-240V |
| 設置環境温度 | 5-27℃ |
| 装置冷却 | 水冷式※1 |
| X線定格出力 | 40kV,1.0mA,最大40(W) |
| 検出器 | SDD（シリコンドリフトディテクタ） |
| 計数回路 | DSP（デジタルシグナルプロセッサ） |
| 測定ヘッド部寸法 | 温度：5～27℃ 266(W)×136(D)×160(H)mm ※2 |
