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软膜和薄膜的台式电容式测厚仪TOF-C2

软膜和薄膜的台式电容式测厚仪TOF-C2

产品型号:

所属分类:超声波测厚仪

产品时间:2021-06-24

简要描述:日本YAMABUN山文电气软膜和薄膜的台式电容式测厚仪TOF-C2
高测量分辨率
由于它是非接触式,因此非常适用于难以用接触式测量的薄膜。
即使表面状况粗糙,也可以进行测量。
基重测量
操作简单(具有自动介电常数设置功能)

详细说明:

日本YAMABUN山文电气软膜和薄膜的台式电容式测厚仪TOF-C2

 

产品特点
  • 高测量分辨率
  • 由于它是非接触式,因此非常适用于难以用接触式测量的薄膜。
  • 即使表面状况粗糙,也可以进行测量。
  • 基重测量
  • 操作简单(具有自动介电常数设置功能)
  • 模型TOF-C2 * TOF-C的后继机型
    测量方法非接触式/电容式
    测量对象薄膜、粘性保护膜、防尘膜
    测量原理电容式
    日本YAMABUN山文电气软膜和薄膜的台式电容式测厚仪TOF-C2
  • 产品规格
    测量厚度~ 500 微米
    测量长度10 至 10000 毫米
    测量间距1 毫米 ~
    最小显示值0.01微米
    电源电压AC100V 50 / 60Hz
    工作温度限制5-40°C(测量时温度变化1°C以内)
    湿度35-80%(无冷凝)


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