日本YAMABUN山文电气软膜和薄膜的台式电容式测厚仪TOF-C2
高测量分辨率
由于它是非接触式,因此非常适用于难以用接触式测量的薄膜。
即使表面状况粗糙,也可以进行测量。
基重测量
操作简单(具有自动介电常数设置功能)
模型 | TOF-C2 * TOF-C的后继机型 |
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测量方法 | 非接触式/电容式 |
测量对象 | 薄膜、粘性保护膜、防尘膜 |
测量原理 | 电容式 |
日本YAMABUN山文电气软膜和薄膜的台式电容式测厚仪TOF-C2
测量厚度 | ~ 500 微米 |
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测量长度 | 10 至 10000 毫米 |
测量间距 | 1 毫米 ~ |
最小显示值 | 0.01微米 |
电源电压 | AC100V 50 / 60Hz |
工作温度限制 | 5-40°C(测量时温度变化1°C以内) |
湿度 | 35-80%(无冷凝) |