日本stil线扫描光谱共焦传感器MPLS-DM
产品型号：
所属分类：传感器
产品时间：2025-08-02
简要描述：日本stil线扫描光谱共焦传感器MPLS-DM有两束光纤，光学头连接到光电控制器。各种光学头由不同测量范围、轴向分辨率和景深来定义。
详细说明：
日本stil线扫描光谱共焦传感器MPLS-DM
技术特点
- 有两束光纤，光学头连接到光电控制器。
- 各种光学头由不同测量范围、轴向分辨率和景深来定义。
- 连接到MPLS-DM的光学头可独立进行轮廓测量，无需任何外部转换。
- 3D测量可以通过传输表或生产线获得。
- MPLS-DM提供每秒360 000个测量点的非常高的测量速率，每秒2000行。每条线由180个离散点组成。
- 此性能是高水平技术集成，结合STIL经验知识和先进制造工艺优化的结果。
- MPLS-DM传感器提供即时测量配置文件，每个配置文件包括180个同时采集的点。
优势
MPLS-DM控制器
l 市场上第yi台“线”光谱共聚焦传感器。
l 投射到样品表面为一条线，由180个离散点组成，每点对应一条独立测量通道。
l 大线率是2000 lines/秒。
l 高工作量（360000点/秒）
l 由千兆以太网进行数据传输
l 高分辨率，高精度
l 可测量任何材料
l 对外部环境光线不敏感
l 兼容所有光学头
l 同步方式：主和从
l 借助DLL工具，易于管理
参数
日本stil线扫描光谱共焦传感器MPLS-DM
技术特点
- 有两束光纤，光学头连接到光电控制器。
- 各种光学头由不同测量范围、轴向分辨率和景深来定义。
- 连接到MPLS-DM的光学头可独立进行轮廓测量，无需任何外部转换。
- 3D测量可以通过传输表或生产线获得。
- MPLS-DM提供每秒360 000个测量点的非常高的测量速率，每秒2000行。每条线由180个离散点组成。
- 此性能是高水平技术集成，结合STIL经验知识和先进制造工艺优化的结果。
- MPLS-DM传感器提供即时测量配置文件，每个配置文件包括180个同时采集的点。
