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日本stil线扫描光谱共焦传感器MPLS-DM

日本stil线扫描光谱共焦传感器MPLS-DM

产品型号:

所属分类:传感器

产品时间:2020-08-22

简要描述:日本stil线扫描光谱共焦传感器MPLS-DM
有两束光纤,光学头连接到光电控制器。
各种光学头由不同测量范围、轴向分辨率和景深来定义。

详细说明:

日本stil线扫描光谱共焦传感器MPLS-DM

技术特点

  • 有两束光纤,光学头连接到光电控制器。
  • 各种光学头由不同测量范围、轴向分辨率和景深来定义。
  • 连接到MPLS-DM的光学头可独立进行轮廓测量,无需任何外部转换。
  • 3D测量可以通过传输表或生产线获得。
  • MPLS-DM提供每秒360 000个测量点的非常高的测量速率,每秒2000行。每条线由180个离散点组成。
  • 此性能是高水平技术集成,结合STIL经验知识和先进制造工艺优化的结果。
  • MPLS-DM传感器提供即时测量配置文件,每个配置文件包括180个同时采集的点。

优势

MPLS-DM控制器 

l 市场上第yi台“线”光谱共聚焦传感器。

l 投射到样品表面为一条线,由180个离散点组成,每点对应一条独立测量通道。

l 最大线率是2000 lines/秒。

l 高工作量(360000点/秒)

l 由千兆以太网进行数据传输

l 高分辨率,高精度

l 可测量任何材料

l 对外部环境光线不敏感

l 兼容所有光学头

l 同步方式:主和从

l 借助DLL工具,易于管理

参数

日本stil线扫描光谱共焦传感器MPLS-DM

技术特点

  • 有两束光纤,光学头连接到光电控制器。
  • 各种光学头由不同测量范围、轴向分辨率和景深来定义。
  • 连接到MPLS-DM的光学头可独立进行轮廓测量,无需任何外部转换。
  • 3D测量可以通过传输表或生产线获得。
  • MPLS-DM提供每秒360 000个测量点的非常高的测量速率,每秒2000行。每条线由180个离散点组成。
  • 此性能是高水平技术集成,结合STIL经验知识和先进制造工艺优化的结果。
  • MPLS-DM传感器提供即时测量配置文件,每个配置文件包括180个同时采集的点。


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