网站首页产品展示 > > > 日本stil线阵视觉检测系统MC2
日本stil线阵视觉检测系统MC2

日本stil线阵视觉检测系统MC2

产品型号:

所属分类:

产品时间:2020-08-22

简要描述:日本stil线阵视觉检测系统MC2
MC2线阵视觉检测系统完美地解决了传统机器视觉在表面瑕疵检测的痛点,具有明显的优势:
v 无需外接光源照明,光谱共焦传感器的光源即为检测所需的同轴光源;
v 环境光线的变化不影响成像效果,适应性强;

详细说明:

日本stil线阵视觉检测系统MC2

MC2线阵视觉检测系统完美地解决了传统机器视觉在表面瑕疵检测的痛点,具有明显的优势:

v 无需外接光源照明,光谱共焦传感器的光源即为检测所需的同轴光源;
v 环境光线的变化不影响成像效果,适应性强;
v 适应所有的物体表面,无论是漫反射表面,镜面(高光面)或者透明物体表面; 
v 高达80KHz的扫描速度,并可实现非常低的像素尺寸(最小像素可达0.2×0.2μm2);
v 最gao可至2.6mm的高景深,在景深范围内的任何一个位置都是完美聚焦,成像更为清晰且无需进行Z轴对焦。

优势:
v 无需外接光源照明,光谱共焦传感器的光源即为检测所需的同轴光源;
v 环境光线的变化不影响成像效果,适应性强;
v 适应所有的物体表面,无论是漫反射表面,镜面(高光面)或者透明物体表面; 
v 高达80KHz的扫描速度,并可实现非常低的像素尺寸(最小像素可达0.2×0.2μm2);
v 最gao可至2.6mm的高景深,在景深范围内的任何一个位置都是完美聚焦,成像更为清晰且无需进行Z轴对焦。

日本stil线阵视觉检测系统MC2

MC2四种镜头配置参数:
产品型号 MC2-701-N1MC2-702-N1MC2-703-N1MC2-704-N1MC2-705-N1MC2-706-N1MC2-707-N1MC2-708-N1
示例unitNanoView 2KNanoView 4KMicroView 2KMicroView 4KDeepView 2KDeepView 4KWireView 2KWireView 4K
线长mm1.351.841.5
景深µm1005002600900
工作距离mm4.61047.87.8
放大率 17.312.55.615.6
数值孔径 0.70.50.350.75
最大样本斜率°40302046
样本像素大小µm0.820.411.120.562.51.230.90.45
光学头: 长度mm413.8393.3402.6382.1422.9403.9457.7437.2
光学头: 直径mm50507570
光学头: 重量g------


留言框

  • 产品:

  • 留言内容:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 详细地址:

  • 省份:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

QQ在线客服
电话咨询
  • 0755-21046949
  • 扫一扫,加微信