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日本stil线阵视觉检测系统MC2
MC2线阵视觉检测系统完美地解决了传统机器视觉在表面瑕疵检测的痛点，具有明显的优势：
v 无需外接光源照明，光谱共焦传感器的光源即为检测所需的同轴光源；
v 环境光线的变化不影响成像效果，适应性强；
v 适应所有的物体表面，无论是漫反射表面，镜面（高光面）或者透明物体表面；
v 高达80KHz的扫描速度，并可实现非常低的像素尺寸(小像素可达0.2×0.2μm2)；
v gao可至2.6mm的高景深，在景深范围内的任何一个位置都是完美聚焦，成像更为清晰且无需进行Z轴对焦。
优势：
v 无需外接光源照明，光谱共焦传感器的光源即为检测所需的同轴光源；
v 环境光线的变化不影响成像效果，适应性强；
v 适应所有的物体表面，无论是漫反射表面，镜面（高光面）或者透明物体表面；
v 高达80KHz的扫描速度，并可实现非常低的像素尺寸(小像素可达0.2×0.2μm2)；
v gao可至2.6mm的高景深，在景深范围内的任何一个位置都是完美聚焦，成像更为清晰且无需进行Z轴对焦。
日本stil线阵视觉检测系统MC2
| MC2四种镜头配置参数: | |||||||||
| 产品型号 | MC2-701-N1 | MC2-702-N1 | MC2-703-N1 | MC2-704-N1 | MC2-705-N1 | MC2-706-N1 | MC2-707-N1 | MC2-708-N1 | |
| 示例 | unit | NanoView 2K | NanoView 4K | MicroView 2K | MicroView 4K | DeepView 2K | DeepView 4K | WireView 2K | WireView 4K |
| 线长 | mm | 1.35 | 1.8 | 4 | 1.5 | ||||
| 景深 | µm | 100 | 500 | 2600 | 900 | ||||
| 工作距离 | mm | 4.6 | 10 | 47.8 | 7.8 | ||||
| 放大率 | 17.3 | 12.5 | 5.6 | 15.6 | |||||
| 数值孔径 | 0.7 | 0.5 | 0.35 | 0.75 | |||||
| 大样本斜率 | ° | 40 | 30 | 20 | 46 | ||||
| 样本像素大小 | µm | 0.82 | 0.41 | 1.12 | 0.56 | 2.5 | 1.23 | 0.9 | 0.45 |
| 光学头: 长度 | mm | 413.8 | 393.3 | 402.6 | 382.1 | 422.9 | 403.9 | 457.7 | 437.2 |
| 光学头: 直径 | mm | 50 | 50 | 75 | 70 | ||||
| 光学头: 重量 | g | - | - | - | - | - | - | ||
