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日本ae-mic高精度数字电阻检查器AE-162L

日本ae-mic高精度数字电阻检查器AE-162L

产品型号:

所属分类:其他设备

产品时间:2020-12-11

简要描述:日本ae-mic高精度数字电阻检查器AE-162L
D,F,G,J,K类,兼容超小型芯片(0201、03015),包带机

详细说明:

日本ae-mic高精度数字电阻检查器AE-162L

 

D,F,G,J,K类,兼容超小型芯片(0201、03015),包带机

  • 0201,03015尺寸超小型芯片兼容(测量功率0.02W以下/测量端子开路电压9V以下)
  • 配备自清洁功能的测试探头
  • 超高速0.7毫秒(代表值)
  • 通过静态功率抵消测量实现高精度和高稳定性
  • 通过对每个范围进行测量值积分时间设置功能,实现超高速和高稳定性测量
  • %测量:-99.99%〜+ 25.00%[5mΩ〜109MΩ]
  • 值测量:0.00mΩ〜125.00MΩ
  • 接触检查:测量前/测量后/ OFF
  • RS-232C接口标准设备(GP-IB是可选的)
  • 打印机输出标准设备(与Centronics兼容)
  • 设置值传送功能作为标准设备:(相同的设置数据可以传送到另一台AE-162D并自动设置)
  • 测量电流/测量电压异常检查电路的标准设备

校准后180天[校准后1年:1.5倍]的测量范围和基本精度(环境温度23°C±5°C)

日本ae-mic高精度数字电阻检查器AE-162L

测量范围标准值设定范围实测电流测量精度*
快速
100毫欧5mΩ-100mΩ100毫安≤±0.02%±2a±2d≤±0.03%±3a±2d±[2 /(1 + n)] d
100.1mΩ〜1Ω100毫安在±0.02%±a±1d之内≤±0.02%±a±2d±[2 /(1 + n)] d
10Ω1.001Ω〜10Ω30毫安
100Ω10.01Ω-100Ω10毫安±0.02%±1d以内在±0.02%±2d±[1 /(1 + n)] d之内
1kΩ100.1Ω〜1kΩ3毫安
10kΩ的1.001kΩ〜10kΩ0.5毫安
100kΩ的10.01kΩ-100kΩ50微安
1兆欧100.1kΩ〜1MΩ5微安在±0.05%±2d±[1 /(1 + n)] d之内
10兆欧1.001MΩ〜10MΩ0.5微安±0.03%±1d以内在±0.2%±4d±[1 /(1 + n)] d之内
100兆欧10.01MΩ〜109MΩ0.05微安±0.1%±2d以内───

* D =数字,n =积分时间(毫秒),
%测量:α=(100 /标准设定值mΩ)x 0.01%,
值测量:α= 0(加±1d),
*完全屏蔽状态下的精度

测量时间外部启动自由奔跑
快速快速
大约18毫秒-400毫秒大约0.7毫秒-400毫秒约30次/秒〜
约2次/秒
约60次/秒〜
约2次/秒
实测功率0.02W以下
测量端子开路电压9V以下
测量结束信号(EOC)脉冲宽度1到250毫秒,并且可以连续设置
测量方式4端子测量/ 2端子测量可切换
判断值设定范围%测量:-99.99%至+ 25.00%,值测量:00000至12500
周边环境温度:0°C至+ 50°C,湿度:80%以下
需要电源AC85V〜265V,50Hz〜60Hz,约50VA
外形尺寸333(w)x 99(H)x 300(D)mm(不包括橡胶脚等突起)
重量约3.5kg
选项・ GP-IB
・数据传输线
・短接(零欧姆标准电阻)
・转换适配器(3P x2⇒5P)


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