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日本ae-mic用于超高精度电阻器检查AE-163D

日本ae-mic用于超高精度电阻器检查AE-163D

产品型号:

所属分类:其他设备

产品时间:2020-12-11

简要描述:日本ae-mic用于超高精度电阻器检查AE-163D
适用于 B,C,D,F,G,J,K类,切屑,熔体,径向和轴向电阻器的分拣和编带机

详细说明:

日本ae-mic用于超高精度电阻器检查AE-163D

 

适用于 B,C,D,F,G,J,K类,切屑,熔体,径向和轴向电阻器的分拣和编带机

  • 超高精度:分辨率10ppm,基本精度±0.005%
  • 通过静态功率抵消测量实现高精度和高稳定性
  • 由于从模拟到数字的隔离而提高了抗噪声能力,因此具有很高的稳定性
  • 通过对每个范围进行测量值积分时间设置功能,实现超高速和高稳定性测量
  • 值测量:0.00mΩ〜125.00MΩ
    %测量:5mΩ〜109mΩ[±10.000%/-99.99〜+ 25.00%]
  • 接触检查:测量前/测量后/ OFF
  • RS-232C接口标准设备(GP-IB是可选的)
  • 打印机输出标准设备(与Centronics兼容)
  • 设置值传送功能作为标准设备:(相同的设置数据可以传送到另一台AE-163D并自动设置)
  • 测量电流/测量电压异常检查电路的标准设备
  • 配备测量探头自动清洁电路

校准后90天[校准后1年:两倍]的测量范围和基本精度(环境温度23°C±5°C)

日本ae-mic用于超高精度电阻器检查AE-163D

测量范围标准值设定范围实测电流测量精度*
慢[高分辨率]快速[LO-Resco。]快速[Lo-Resco。]
100毫欧5mΩ-100mΩ180毫安±0.01%±α±10d以内在±0.02%±α±2d之内≤±0.03%±2α±3d±[2 /(1 + n)] d
100.1mΩ〜1Ω180毫安在±0.005%±α±3d之内±0.02%±α±1d以内≤±0.02%±α±2d±[2 /(1 + n)] d
10Ω1.001Ω〜10Ω90毫安
100Ω10.01Ω-100Ω18毫安±0.005%±1d以内±0.02%±1d以内在±0.02%±2d±[1 /(1 + n)] d之内
1kΩ100.1Ω〜1kΩ9毫安
10kΩ的1.001kΩ〜10kΩ0.9毫安
100kΩ的10.01kΩ-100kΩ90微安
1兆欧100.1kΩ〜1MΩ9微安±0.007%±1d以内在±0.05%±2d±[1 /(1 + n)] d之内
10兆欧1.001MΩ〜10MΩ0.9微安±0.02%±10d以内±0.03%±1d以内在±0.2%±4d±[1 /(1 + n)] d之内
100兆欧10.01MΩ-100MΩ0.09微安±0.1%±20d以内±0.1%±2d以内---

* D =数字,n =积分时间(毫秒),使用Lo-Reso测量值
%时测量:α=(100 /标准设定值mΩ)x 0.01%,测量值时: α= 0(加±1d)
*完全屏蔽状态下的精度

测量时间外部启动自由奔跑
快速快速
大约24毫秒-400毫秒大约11毫秒-400毫秒约5次/秒〜
约2次/秒
约10次/秒〜
约2次/秒
测量端子开路电压15V以下
测量结束信号(EOC)脉冲宽度1到250毫秒,并且可以连续设置
测量方式4端子测量/ 2端子测量可切换
判断值设定范围测量%:±10.000%/-99.99%〜+ 25.00%
值测量:00000-12500
周边环境温度:0°C至+ 50°C,湿度:80%以下
需要电源AC85V〜265V,50Hz〜60Hz,约50VA
外形尺寸333(w)x 99(H)x 300(D)mm(不包括橡胶脚等突起)
重量约3kg
选项・ GP-IB
・数据传输线
・短接(零欧姆标准电阻)
・ 3P x 2→5P转换适配器(AEA-35)

*规格如有变更,恕不另行通知。



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