日本hu-brain芯片零件六面图像检查设备 触摸屏使操作员易于操作。 也可以通过更换零件来使用。 您可以将检查范围设置为多边形窗口中的每个角。

日本hu-brain圆晶/芯片外观品质检测设备 可以高速且高精度地检查在晶片工艺和切割工艺中出现的外观缺陷。 可以检查各种图案的芯片。 对于每种产品类型，可以使用可变的图像分辨率（1.5至5µ）进行检查。

日本hu-brain颗粒粉末异物图像检查装置 出色的检测能力（检测精度为16.6µm） 紧凑型，结合了检查箱和控制面板

日本sanko电磁膜厚计CTR-2000V ◆日语键易于操作 ◆20,000个大容量内存 ◆校准线注册数量10

日本sanko专业版膜厚计SAMAC-FN/SAMAC-Pro ◆自动识别和测量jian金属。 ◆背光以在黑暗中进行测量。 ◆FN类型具有单个功能，而Pro类型具有较高的功能。