日本hu-brain芯片零件六面图像检查设备 触摸屏使操作员易于操作。 也可以通过更换零件来使用。 您可以将检查范围设置为多边形窗口中的每个角。
日本hu-brain圆晶/芯片外观品质检测设备 可以高速且高精度地检查在晶片工艺和切割工艺中出现的外观缺陷。 可以检查各种图案的芯片。 对于每种产品类型,可以使用可变的图像分辨率(1.5至5µ)进行检查。
日本sanko专业版膜厚计SAMAC-FN/SAMAC-Pro ◆自动识别和测量jian金属。 ◆背光以在黑暗中进行测量。 ◆FN类型具有单个功能,而Pro类型具有较高的功能。