日本MIC超高速芯片电阻检测仪AE-162E
适用于 D、F、G、J、K 级、芯片、melph、径向和轴向电阻器的分拣和编带机
由于模数隔离提高了抗噪性,因此稳定性高
兼容极小的芯片(低功耗测量)
超高速 0.7msec.(代表值)
由于热电动势抵消测量的高精度和高稳定性
通过各量程的测量值积分时间设定功能,实现超高速、高稳定性的测量
% 测量:± 99.99% [5mΩ-109MΩ]
绝对测量:0.00mΩ~200.00MΩ
接触检查:可选择测量前/测量后/OFF
RS-232C接口标准设备(GP-IB可选)
打印机输出标准设备(符合 Centronics)
标配设定值传输功能:(将相同的设定数据传输至另一台AE-162D并可自动设定)
测量电流/测量电压异常检查电路标准设备
日本MIC超高速芯片电阻检测仪AE-162E
测量范围 | 标准值设定范围 | 测量电流 | 测量精度* | ||
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慢 | 快速地 | ||||
100mΩ | 5mΩ-100mΩ | 100mA | ± 0.02% ± 2a ± 2d | ± 0.03% ± 3a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d | |
1Ω | 100.1mΩ~1Ω | 100mA | ±0.02%±a±1d以内 | ± 0.02% ± a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d | |
10Ω | 1.001Ω~10Ω | 50mA | |||
100Ω | 10.01Ω-100Ω | 10mA | ±0.02%±1d以内 | ± 0.02% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d | |
1kΩ | 100.1Ω~1kΩ | 5mA | |||
10kΩ | 1.001kΩ~10kΩ | 0.5mA | |||
100kΩ | 10.01kΩ-100kΩ | 50μA | |||
1兆欧 | 100.1kΩ~1MΩ | 5μA | ± 0.05% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d | ||
10MΩ | 1.001MΩ ~ 10MΩ | 0.5μA | ±0.03%±1d以内 | ± 0.2% ± 4d ± [1 / (1 + n)] d | |
100MΩ | 10.01MΩ ~ 109MΩ | 0.05μA | ±0.1%±2d以内 | ──── |
测量时间 | 外部启动 | 自由奔跑 | ||
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慢 | 快速地 | 慢 | 快速地 | |
大约 18 毫秒-400 毫秒。 | 大约 0.7 毫秒-400 毫秒。 | 约30次/秒~ 约2次/秒 | 约60次/秒~ 约2次/秒 |
测量端子开路电压 | 15V以下 |
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测量结束信号(EOC)脉宽 | 1 至 250 毫秒,可连续设定 |
测量方法 | 4端测量/2端测量可切换 |
判断值设定范围 | %测量:±99.99%,绝对值测量:00000-20000 |
周边环境 | 温度:0℃~+50℃,湿度:80%以下 |
需要电源 | AC85V~265V,50Hz~60Hz,约50VA |
外形尺寸 | 333 (w) x 99 (H) x 300 (D) mm(不包括橡胶脚垫等突出部分) |
重量 | 约3.5kg |
选项 | ・ GP-IB |
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・ 数据传输线 | |
・ 短接(零欧姆标准电阻) | |
・ 转换适配器(3P x 2⇒5P) |