从面板到新材料：DUORES® 面电阻检测仪，全场景高精度解决方案

一、核心技术：双法合一，突破传统检测局限

1. 无损涡流探头（非接触式）

• 测量原理：电磁涡流感应，零接触、零损伤

• 测量范围：0.5–200 Ω/□

• 测量光斑：φ25 mm

• 核心价值：保护脆弱薄膜、透明涂层、精密面板表面无划痕，适合大批量快速筛检

2. 四探针接触探头（高精度式）

• 测量原理：经典四探针法，数据权1威可溯源

• 测量范围：0.001–4000 Ω/□

• 针距：3 mm，测量区域 9 mm

• 核心价值：覆盖超低阻到高阻全量程，满足研发标定、质量仲裁、精度校准需求

3. 整机硬核性能

• 手持轻量化：主机约 350 g，单手可操作

• 自动测量：探头轻触 / 放置样品即自动启动

• 超长续航：电池连续工作 24 小时

• 数据管理：存储 50,000 组数据，支持 USB 导出

• 多单位显示：Ω/□、S/□、膜厚 nm 一键切换

二、全场景落地：从面板到新材料，覆盖全产业链

场景 1：显示面板行业 —— ITO/TCO 柔性导电膜量产检测

• 前道卷对卷生产：无损探头快速筛检，不划伤膜面

• 后道成品抽检：四探针探头高精度复核

• 实际成效：

• 产品报废率从 0.8% 降至 0.1%

• 检测效率提升 3 倍

• 批次一致性达标率达 99.5%

场景 2：建筑节能玻璃 —— LOW‑E 镀膜在线质检

• 全程使用无损探头，轻放即测

• 2 秒 / 片，适配高速产线节拍

• 实时判定合格 / 不合格

• 实际成效：良品率达 99.8%，节能指标稳定达标

场景 3：前沿新材料 —— 石墨烯 / 碳纳米管 / 纳米银线研发表征

• 无损探头保护样品不被破坏

• 四探针提供高精度基准数据

• 直读膜厚换算值，快速建立工艺曲线

• 实际成效：研发周期缩短 40%，数据可直接用于论文与专1利

场景 4：消费电子 —— 抗静电涂层来料快检

• 无损探头快速初筛

• 四探针对异常品精准复核

• 手持便携，仓库 / 产线随处可测

• 实际成效：检验效率提升 5 倍，不合格来料有效拦截

三、方案价值：一台设备，解决全流程检测难题

1. 降本增效

   一机替代无损仪 + 四探针仪两台设备，采购与维护成本更低。

2. 品质保障

   无损保护高价值产品，接触测量确保精度，双重保障质量。

3. 全场景适配

   实验室研发、产线全检、来料检验、现场抽检均可胜任。

4. 数据可追溯

   大容量存储 + USB 导出，满足 ISO、IATF 等体系审核要求。

5. 易用易普及

   无需专业培训，工人快速上手，降低人力成本。

四、总结：面向未来的导电材料检测标准