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兼容超小芯片高精度、数字电阻检测器

兼容超小芯片高精度、数字电阻检测器

产品型号: AE-162L

所属分类:电阻检测仪

产品时间:2024-09-11

简要描述:日本MIC兼容超小芯片高精度、数字电阻检测器AE-162L
D、F、G、J、K级超小尖头(0201、03015)兼容编带机
0201、03015尺寸超小型芯片兼容(测量功率0.02W以下/测量端子开路电压9V以下)

详细说明:

日本MIC兼容超小芯片高精度、数字电阻检测器AE-162L
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D、F、G、J、K级超小尖头(0201、03015)兼容编带机


  • 日本MIC兼容超小芯片高精度、数字电阻检测器AE-162L

    • 0201、03015尺寸超小型芯片兼容(测量功率0.02W以下/测量端子开路电压9V以下)

    • 配备测试探针自清洁功能

    • 超高速 0.7msec.(代表值)

    • 由于热电动势抵消测量的高精度和高稳定性

    • 通过各量程的测量值积分时间设定功能,实现超高速、高稳定性的测量

    • % 测量:-99.99% ~ + 25.00% [5mΩ ~ 109MΩ]

    • 绝对值测量:0.00mΩ 至 125.00MΩ

    • 接触检查:可选择测量前/测量后/OFF

    • RS-232C接口标准设备(GP-IB可选)

    • 打印机输出标准设备(符合 Centronics)

    • 标配设定值传输功能:(将相同的设定数据传输至另一台AE-162D并可自动设定)

    • 测量电流/测量电压异常检查电路标准设备

  • 测量范围和基本精度(环境温度23°C±5°C),校准后180天[校准后1年:1.5次]
  • 测量范围标准值设定范围测量电流测量精度*
    快速地
    100mΩ5mΩ-100mΩ100mA± 0.02% ± 2a ± 2d± 0.03% ± 3a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
    100.1mΩ~1Ω100mA±0.02%±a±1d以内± 0.02% ± a ± 2d ± [2 / (1 + n)] d
    10Ω1.001Ω~10Ω30mA
    100Ω10.01Ω-100Ω10mA±0.02%±1d以内± 0.02% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
    1kΩ100.1Ω~1kΩ3mA
    10kΩ1.001kΩ~10kΩ0.5mA
    100kΩ10.01kΩ-100kΩ50μA
    1兆欧100.1kΩ~1MΩ5μA± 0.05% ± 2d ± [1 / (1 + n)] d
    10MΩ1.001MΩ ~ 10MΩ0.5μA±0.03%±1d以内± 0.2% ± 4d ± [1 / (1 + n)] d
    100MΩ10.01MΩ ~ 109MΩ0.05μA±0.1%±2d以内────
  • * D = 位数,n = 积分时间(毫秒),
    % 测量值:α = (100 / 标准设定值 mΩ) x 0.01%,
    绝对值测量值:α = 0(加 ± 1d),
    * *屏蔽中的精度状态
  • 测量时间外部启动自由奔跑
    快速地快速地
    大约 18 毫秒-400 毫秒。大约 0.7 毫秒-400 毫秒。约30次/秒~
    约2次/秒
    约60次/秒~
    约2次/秒
  • 测量功率0.02W以下
    测量端子开路电压9V以下
    测量结束信号(EOC)脉宽1 至 250 毫秒,可连续设定
    测量方法4端测量/2端测量可切换
    判断值设定范围% 测量:-99.99% 至 + 25.00%,绝对值测量:00000 至 12500
    周边环境温度:0℃~+50℃,湿度:80%以下
    需要电源AC85V~265V,50Hz~60Hz,约50VA
    外形尺寸333 (w) x 99 (H) x 300 (D) mm(不包括橡胶脚垫等突出部分)
    重量约3.5kg
  • 选项・ GP-IB
    ・ 数据传输线
    ・ 短接(零欧姆标准电阻)
    ・ 转换适配器(3P x 2⇒5P)


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