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电子元器件散热材料评价设备-日本热波分析仪 TA

发布时间:2021-06-08 点击量:581

电子元器件散热材料评价设备-日本热波分析仪 TA

 

 热扩散率的非接触式测量可在从有机薄膜到钻石的广泛范围内进行评估

特征

  • 使用激光的非接触式测量
  • 只需放置样品即可轻松操作
  • 样品形状自由度高,允许您指ding测量位置
  • 从有机薄膜到金刚石的广泛测量范围
  • 绝对值测量方法,易于条件设置
  • 可进行水平和垂直测量 → 检查样品的各向异性
  • 可从热扩散率转换为热导率和热扩散率
  • 可进行分布测量 → 评估样品缺陷和不均匀

 热物性测量范围

 可以进行从有机薄膜到钻石的各种测量。此外,还可以测量难以测量的高导热树脂。我们还处理双层样品和难以处理的物体的测量。

测量范围

主要规格

 

TA35

TA33

TA32

TA31

测量对象

热扩散率

测量范围

0.1 至 1000 [× 10 -6 m 2 s -1 ]

输出数据

频率、距离、幅度、相位、厚度【TXT格式】

测量模式

垂直方向

——

水平方向

——

分布测量

——

——

——

附其他

调温加热器

选项

选项

——

——

调焦

汽车

汽车

手动的

手动的

控制/分析软件

个人电脑

测量环境

测量温度

室内温度

测量温度(配备加热器时)

室温~300[℃]

——

测量频率

0.01 [Hz] ~ 100 [kHz]

半导体激光器

波长

808 [纳米]

最大输出

1.5 [W]

辐射温度计

元素

锑化镓

冷却方式

液氮

舞台活动区

检测阶段

± 5 [毫米]

± 5 [毫米]

± 5 [毫米]

——

样品台

± 10 [毫米]

——

——

——

重复精度

± 5 [%]

电源供应

AC100-240 [V], 10-5 [A], 50/60 [Hz]

激光安全

I 类激光产品
IEC / EN 60825-1: 2007