适合评估光学元件的多端口光功率计介绍

• 可进行高速测量（每个端口最多 100 万个记录点）

• 一台设备最多可测量20个端口（可同时使用多台设备）

• 功率计模块 (MPM-211 / 212/215)

• 电流表模块 (MPM-213)

概述

MPM-210H 非常适合对多端口光学组件（例如波长选择开关 (WSS) 和 AWG 模块）进行插入损耗和 WDL/PDL 测量。通过与配备功率监视器输出的可调光源（TSL 系列）组合，可以实时消除光源的光输出波动，并进行高精度的损耗测量。
有关光学表征系统的更多信息，请参阅扫描测试系统 。

特征

• 高速测量
  每个
  端口最多可进行 100 万点的记录采样 每个端口配备两个存储器，即使在记录期间也可以读取
  最高 100 kHz 的高速采样是可能的

• 高动态范围
  -80 ~ + 10dBm (MPM-211 / 212)
  -70 ~ + 5dBm (MPM-215)

• 高动态范围（在记录模式下）
  50dB / 扫描 (MPM-211 / 212)
  70dB / 扫描 (MPM-215)

• 电流表模块 (MPM-213)
  输入功率范围 --70 至 + 10 dBmA

• 配备模拟输出（MPM-212）

• 最多可安装5个模块（最多可同时测量20个端口）

• 波长范围 1250-1650 nm

• MPM-210H 是 MPM-210 的向上兼容型号

运用

• 光功率测量

• IL/WDL/PDL 测量（扫频测试系统）