SNK表面附着异物可视化技术分析
颗粒可视化技术可用于高灵敏度地检测光滑表面上的颗粒。此外，通过可视化颗粒成分产生的荧光，可以日常管理表面异物和污垢。
高灵敏度粒子可视化技术捕获移动粒子的散射光。同样的原理可用于高灵敏度地检测表面异物或移动产品的微弱散射光。使用激光只能应用于光滑的产品，但可以通过可视化进行检测，例如，即使在施加张力的薄膜中也是如此。
使用散射光感测表面异物
附着在表面的异物或污垢可能会因其成分而反射荧光。为了使荧光颜色变得清晰，需要想办法照射光线，但如果使用特殊的滤光片来滤除散射光，表面的异物就会变得非常丰富多彩，并且很容易看到。通过这种方法，无论表面的光滑程度如何，只要有光到达，就可以进行可视化。“D Light"可免费借用（约2天）。请借此机会尝试一下。
利用荧光识别异物和污垢
“D Light"是一种可以更轻松地从视觉上看到异物和表面污垢的荧光颜色的工具。
“D Scope"是一种可以捕获最微弱荧光的工具，可以分析细小颗粒的各种信息并将其转换为数据。
平行眼 F是一种相对容易设置在您想要可视化的表面上的光源。
Parallel Eye H是可视化宽阔、光滑的产品表面的最佳光源。
Parallel Eye D是可视化不平坦表面或使荧光更加突出的最佳光源。
具有粒子检测专用的灵敏度和功能的超高灵敏度相机就是专用超高灵敏度相机“粒子眼"。
要在 PC 上实时处理和记录图像，请使用图像处理包“ParticleEye"
