日本Yamada推出的YP-150I和YP-250I高强度卤素灯,专为高精度表面缺陷检测设计,广泛应用于半导体晶片、液晶基板、光学玻璃等精密制造领域。两款产品均采用高亮度卤素光源,结合冷镜技术,在保证超高照度的同时大幅降低热影响,确保检测的稳定性和准确性。
照度≥400,000Lx,远超常规照明设备,可清晰识别仅靠精密仪器才能检测的微米级缺陷(如划痕、异物、抛光不均等)。
色温达3400K,光线均匀锐利,减少照明不均导致的误判。
相比传统铝镜,热影响降低50%~67%,有效防止设备变形及样品热损伤。
延长设备使用寿命,适用于热敏感材料(如液晶面板、光学镀膜等)。
一键切换高/低照明模式,适应不同检测需求(如高对比度检测或长时间观察)。
参数 | YP-150I | YP-250I |
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照射范围 | 30mmφ(精准小面积) | 60mmφ(高效大范围) |
照射距离 | 140mm(近场高精度) | 220mm(远距离操作) |
光源功率 | 150W(JCR15V150W) | 250W(ELC24V250W) |
系统功率 | 200W | 350W |
灯泡寿命 | 50小时 | 35小时 |
冷却方式 | 自然冷却(静音) | 强制排气(高效散热) |
适用电压 | AC5~12V | AC10~22V |
尺寸/重量 | 140×94×185mm / 2.4kg | 135×72×260mm / 2kg |
晶圆缺陷检测:硅片、砷化镓、碳化硅等材料的划痕、雾状污染、抛光不均等。
封装工艺检查:芯片表面异物、微裂纹等。
液晶基板检测:发现生产过程中的颗粒污染、划伤、镀膜缺陷等。
OLED面板质检:高亮度照射下识别像素异常、Mura缺陷。
镜片/透镜检测:检测气泡、杂质、微小划痕,确保光学性能。
镀膜质量分析:观察膜层均匀性及附着缺陷。
需求 | 推荐型号 | 理由 |
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小面积高精度检测 | YP-150I | 30mm小光斑+140mm近场照射,适合晶圆、微型光学元件检测。 |
大范围快速扫描 | YP-250I | 60mm宽照射+220mm远距离,提升液晶面板、大尺寸玻璃检测效率。 |
长时间稳定工作 | YP-150I | 自然冷却+50小时灯泡寿命,适合连续作业环境。 |
高亮度+强制散热 | YP-250I | 350W高功率+强制排气,适合高强度检测需求(如高反射材料)。 |
预算敏感型用户 | YP-150I | 灯泡更换成本更低,功耗更小。 |
Yamada YP-150I和YP-250I高强度卤素灯凭借超高亮度、冷镜降温、灵活光强调节等优势,成为精密制造业表面检测的理想选择。
YP-150I:适用于小尺寸、高精度、低热影响场景,经济性更佳。
YP-250I:适合大范围、远距离、高亮度需求,兼顾效率与性能。
用户可根据检测对象尺寸、环境条件及预算选择最适配型号,以优化质检流程并提升良品率。