在选择TEKHNE露点仪时，TK-100和TE-660是两个核心系列，分别针对不同的工业测量需求。以下是两者的关键对比及选型建议：
| 对比维度 | TK-100系列 | TE-660系列 |
|---|---|---|
| 测量范围 | -100°C ~ +20°C dp | -60°C ~ +20°C dp |
| 传感器技术 | 陶瓷传感器（xin技术） | 聚合物薄膜传感器 |
| 核心优势 | 超低露点测量（<-50°Cdp） | 快速响应、一体化设计 |
| 典型型号 | TK-100 NK-I（带干燥室） | TE-660 NE（内置采样系统） |
| 适用场景 | 半导体、空分装置、超高纯气体 | 压缩空气、SF6检测、工业流程监测 |
TK-100：
覆盖-100°Cdp的干燥环境，适合超高纯气体（如半导体制造用氮气）。
精度±2°Cdp，但在-50°Cdp以下表现更稳定（干燥室系统提升响应速度）。
TE-660：
下限为-60°Cdp，适合常规工业气体（如压缩空气、SF6）。
相同精度（±2°Cdp），但在-20°Cdp以上响应更快（聚合物传感器特性）。
TK-100：
陶瓷传感器耐长期漂移（<0.5°Cdp/年），但初始响应较慢（需干燥室预热）。
TE-660：
聚合物传感器在15秒内可响应露点变化，适合快速巡检。
TK-100 NK-I型：
超轻（0.8kg），AA电池供电（15小时续航），适合野外或无电源环境。
TE-660 NE型：
内置过滤器、流量计，无需外接预处理，但重量稍大（3.5kg）。
TE-660支持4-20mA/Modbus输出，可集成到控制系统；TK-100专注便携测量，无信号输出功能。
需要测量-80°Cdp以下的超低露点（如半导体光刻气体）。
长期稳定性优先（如空分装置连续监测）。
场景需防爆（可选TK-100TR-EX型号）。
测量-60°Cdp以上（如压缩空气、塑料干燥机）。
要求快速响应（如SF6开关水分检测）。
需要一体化设计，减少外接配件。
TK-100初始成本较高，但维护简单（年换干燥剂）；
TE-660需定期更换过滤器（每6个月），但操作更便捷。
干燥选TK-100，常规工业选TE-660。
若预算有限且无需超低露点，TE-660HD分体式型号更经济。
