在工业检测领域，光源的选择直接影响检测效率和精度。日本山田光学的YP-150I和Sena的185LE均采用卤素灯技术，但在设计理念和应用场景上存在显著差异。本文将从照度、照射距离、热管理、适用行业等维度进行对比，帮助用户根据需求选择优方案。
| 参数 | 山田光学 YP-150I | Sena 185LE |
|---|---|---|
| 照度 | 400,000Lx（30mmφ） | 400,000Lx（55mmφ） |
| 照射距离 | 140mm（短距离聚焦） | 310mm（长距离适用） |
| 光束直径 | 30-50mm（可调） | 55mm（固定） |
| 光源类型 | 150W 卤素灯（冷镜技术） | 185W 卤素灯（强制空冷） |
| 灯泡寿命 | 50小时 | 未明确（类似卤素灯寿命） |
| 冷却方式 | 强制风冷 | 强制空冷 |
| 调光方式 | 两级调光（高/低） | 20%-100% 无级调光 |
| 适用行业 | 半导体、玻璃、精密检测 | TFT面板、触摸屏、晶圆检测 |
YP-150I：短距离超高照度，适合微米级缺陷检测
照射距离仅 140mm，但能在 30mm直径 范围内提供 400,000Lx 超高照度，适合检测 <0.2μm 的划痕、异物等微小缺陷。
冷镜技术减少热影响，适用于温度敏感材料（如半导体晶圆、光学玻璃）。
185LE：长距离大范围照明，适合产线自动化检测
照射距离 310mm，光束直径 55mm，适合大尺寸面板（如TFT、触摸屏）的均匀照明。
无级调光（20%-100%）适应不同反光率材料，适用于印刷品、滤光片等色彩敏感检测。
YP-150I：冷镜技术 + 强制风冷，热影响降低2/3
采用冷反射镜，相比传统铝镜，热辐射减少 66%，适合长时间检测热敏感样品。
但灯泡寿命仅50小时，需频繁更换，维护成本较高。
185LE：强制空冷 + 宽电压适配，适合连续作业
支持 AC 95V-260V 全球电压，适用于不同地区的生产线。
散热系统稳定，但卤素灯发热仍可能影响精密电子元件。
| 行业 | YP-150I 优势 | 185LE 优势 |
|---|---|---|
| 半导体晶圆 | ✅ 超高照度，检测0.2μm缺陷 | ❌ 发热可能影响晶圆稳定性 |
| TFT/触摸屏 | ❌ 光束范围较小 | ✅ 55mm均匀照明，减少眩光 |
| 金属加工 | ✅ 高亮度检测焊接、划痕 | ✅ 无级调光适应不同反光率材料 |
| 光学镜片 | ✅ 冷镜减少热畸变 | ❌ 卤素灯可能影响镜片精度 |
✔ 需要检测 <0.2μm 的超微缺陷（如半导体晶圆、精密光学元件）
✔ 检测环境对热敏感（冷镜技术减少热影响）
✔ 检测区域较小（30mm直径内超高亮度）
✔ 需要长距离（310mm）、大范围（55mm） 均匀照明（如TFT面板检测）
✔ 产线需无级调光适应不同材料（如印刷品、滤光片质检）
✔ 设备需全球电压兼容（AC 95V-260V）
YP-150I 是“高精度检测专家"，适合超精密缺陷分析，但灯泡寿命短，维护成本高。
185LE 是“长距离多面手"，适合自动化产线，但卤素灯发热可能影响部分敏感材料。
若预算允许，可搭配使用：YP-150I 用于实验室精密检测，185LE 用于产线快速筛查，以实现优检测效率。
