在半导体 3nm 制程量产、液晶面板 8K 分辨率普及的时代，0.2μm 的划痕、微米级气泡、隐性 Mura 缺陷，都可能引发整批产品返工、百万级损失。日本山田光学 YP-150ID 强光灯，以 40 年工业光学沉淀的硬核技术，成为半导体液晶产线的 “火眼金睛"，让微米级缺陷无所遁形，为良率筑牢一道防线！
🔥 核心价值：三大维度破解行业痛点
✅ 精准，零漏检的 “光学标尺"
400,000 Lux 超高照度（30mmφ 照射面），搭配 3400K 稳定卤素光源，照度波动趋近于零，精准识别晶圆划痕、液晶基板异物、CMP 后研磨不均等 0.2μm 级缺陷，检测准确率媲美专业探测仪，将人工漏检率从 6% 以上压缩至行业超低水平。无论是光刻前表面检查、彩色滤光片检测，还是封装前最终质检，都能实现 “所见即所得" 的量化标准，统一全产线检测规范。
✅ 冷镜黑科技，温度敏感样品的 “安全屏障"
半导体晶圆、液晶基板对温度变化极度敏感，传统强光灯的热辐射易导致样品变形、性能衰减。YP-150ID 搭载专属冷镜技术，热影响仅为传统设备的 1/3，可安全应用于光刻工艺、晶圆封装等严苛环节，杜绝热损伤引发的良率损耗，让精密样品检测 “0风险"。
✅ 高效适配，24 小时产线的 “灵活战友"
🌟 不止是检测工具，更是成本优化利器
选择 YP-150ID，等同于用亲民投入替代高价精密探测仪，降低设备采购成本；通过减少误检漏检、避免热损伤返工，单厂年节约质量损失超 200 万元；配合 AI 缺陷检测系统，更可实现 7×24 小时无人化质检，替代 90% 人工岗位，年省人力成本超千万元。
从台积电等头部企业的制程升级，到中小面板厂的产线迭代，YP-150ID 以 “精准、安全、高效" 的核心优势，成为半导体液晶行业的信赖之选。40 年市场验证的可靠性，让每一台设备都成为产线良率的 “稳定器"，技术迭代的 “加速器"。
