Fujiwork测厚仪薄膜检测适配型号全解析

发布时间：2025-12-21　点击量：17

Fujiwork（富士）作为高精度测厚仪领域的专业1品牌，针对薄膜材料（从3μm超薄电子膜到3000μm厚包装膜）的检测需求，推出了多款适配型号，覆盖实验室抽检、生产线连续检测、高精度科研等多元场景。以下是适合薄膜检测的核心型号及详细适配信息：

一、高精度电子薄膜专用型号（适配5-25μm超薄膜，如锂电隔膜、光学PET膜）

此类薄膜对测量精度、压力控制要求极1高，需避免压伤材料或遗漏细微厚度偏差。

核心参数：测量范围3–100μm，分辨率0.01μm，重复精度0.05μm，线性度±0.2%，标准测量压力0.3N（可调节）。

适配场景：专为湿法PE隔膜、涂覆隔膜等电子薄膜设计，某TOP5锂电池隔膜厂商应用案例显示，其检测12μm湿法PE膜时，极差可控制在0.4μm，CPK值达1.6，完1全1满足电子薄膜±0.5μm的公差要求。

核心优势：超低可调测量压力可避免压伤超薄膜，超高分辨率能精准捕捉微米级厚度波动，支持数据输出与工艺优化联动。

核心参数：分辨率0.01μm，测量范围3μm–3000μm，测量压力最1低可至0.14N，支持连续测量与自动化集成。

适配场景：适用于镜头滤光片光学膜、显示屏多层薄膜、半导体光刻胶等高精度薄膜检测，能精准控制光学性能、电子性能相关的厚度指标，同时兼容电池隔膜、硅片等电子材料检测。

核心优势：量程覆盖广（超薄到厚膜通用），恒定下降速度设计消除人为测量偏差，可嵌入自动化产线实现“测量-记录-报警"全流程闭环，操作界面简洁，降低一线使用门槛。

此类薄膜需兼顾生产线连续检测效率与边缘测量准确性，部分材料表面粗糙或厚度范围波动大，对设备结构设计、量程兼容性要求较高。

核心参数：测量范围500–3000μm，分辨率0.1μm，重复精度0.4μm，测量精度2μm以下，紧凑型结构（260×300×300mm）。

适配场景：适用于铝箔复合膜、厚塑料包装膜等厚型包装材料，支持从薄膜边缘直接测量（无引线设计），避免传统设备的缠绕问题，可直接集成到分切机等生产线。

核心优势：专为连续生产线设计，内置显示屏方便现场读数，结构紧凑不占用过多产线空间，适配粗糙表面或厚膜的稳定测量。

核心参数：分辨率1μm，测量范围8mm（适配20–500μm薄膜），陶瓷测量台（Φ50mm），测量压力可控。

适配场景：适用于纸塑复合膜、普通塑料包装膜等表面粗糙的包装材料检测，陶瓷测量台可减少摩擦损伤材料，同时适配实验室抽检或小批量生产检测。

核心优势：性价比高，操作便捷，支持数据输出与PC联动，适合中小规模包装企业的质量管控需求。

此类型号侧重便携性与操作灵活性，适合研发实验室、现场抽检或小批量生产的薄膜厚度验证，无需固定安装场景。

核心参数：分辨率0.1μm，重复精度0.4μm，测量范围8mm，测量压力0.8N以下，支持USB/RS232C数据输出，纽扣电池供电。

适配场景：适用于各类薄膜的研发实验室抽检、生产线现场巡检，其空气释放机构可保持测量头下降速度恒定，减少操作人员手法差异带来的偏差，支持立放收纳，便携性强。

核心优势：便携小巧，无需外接电源，数据可直接传输至电脑归档，适合移动性强的检测需求。

核心参数：分辨率1μm，重复精度2μm，测量范围8mm，测量压力1.0N以下，数码显示，纽扣电池供电。

适配场景：适用于对精度要求不高的普通薄膜（如农业大棚膜、普通包装膜）抽检，操作简单，成本较低，适合基层质量筛查。

无纺布等蓬松薄膜易压缩，需低压力、匀速测量，且需符合行业标准（如JIS L 1913）。

核心参数：测量压力≤1.0N，空气释放机构保证匀速下降，脚踏泵设计解放双手，符合JIS L 1913行业标准。

适配场景：适用于医用无纺布、涂层无纺布、熔1喷布等蓬松薄膜检测，避免测量压力过大导致材料压缩变形，确保测量数据贴合实际使用状态。