在精密制造的世界里，一个肉眼几乎无法察觉的微尘，可能就是导致整批产品性能降级甚至报废的元凶。尤其是在晶圆、玻璃基板、光学镜片等平坦如镜、价值高昂的基材上，传统的检测方式往往在“似乎干净"和“确实干净"之间留下了一片令人不安的模糊地带。
当你在强光下侧目而视，或依赖普通显微镜进行抽检时，是否曾对那“应该没问题" 的判断心存一丝疑虑？微米级的颗粒污染物，正在这片模糊地带中悄然潜伏，威胁着产品的良率与可靠性。
今天，这种不确定性可以被终结。日本CSC公司的Dust Finder L3SQ条形LED暗场照明检查灯，正是为给出一个确切的、可视化的答案而诞生。
对于完1美的平坦光滑表面，传统的正面直射光（明场照明）会使大部分光线直接反射入人眼或镜头，表面本身看起来非常明亮，但恰恰是这种明亮“淹没"了微小颗粒的成像对比度。而依赖人员经验的侧光观察，则存在光照不均、标准不一、易视觉疲劳等问题，难以实现稳定、可靠的判定。
L3SQ的核心在于运用了经典的暗场照明原理。它通过特制的条形光源，以极低的角度将高亮LED光投射到待检表面。
对于完1美平整的区域：光线会发生镜面反射，几乎不会进入上方的观察者眼中，因此背景呈现均匀的暗场。
一旦遇到微粒、划痕或凹陷：光线会发生散射。这些散射光如同黑夜中的灯塔，清晰且明亮地进入人眼，使得污染物在暗色背景上呈现出鲜明、锐利的亮点或线纹。
这种技术路径的转变，从根本上改变了检测的逻辑：它不再依赖于观察背景反射光的强弱，而是直接捕捉污染物本身的散射信号，从而将检测的灵敏度与可靠性提升到一个新的维度。
L3SQ提供的不仅仅是一个光源，更是一个标准化的检测环境，它消除了人为和环境变量，让洁净度得以被客观评估：
超高灵敏度：在理想条件下，能够帮助操作人员稳定检测到最小直径约10微米（μm） 的颗粒物。这相当于人类红细胞大小的级别，为早期污染预警提供了可能。
卓1越的对比度：可选配的专用绿色滤光片能进一步优化人眼视觉感受，提升信噪比，让目标信号更为突出，大幅降低误判和漏判率。
减轻视觉疲劳：均匀的暗场背景避免了强光直接刺激，检查人员可以长时间工作而不易疲劳，保障了检测质量的持续稳定。
为固定工位而生：轻巧的灯体与专用支架设计，使其能完1美集成于关键工艺点（如贴合前、镀膜前、包装前）的检测工位，实现流程化、即时性的快速筛查。
半导体制造：在晶圆分选、封装前，快速进行表面颗粒的非接触式目检抽查，及时剔除受污染单元，避免价值损失向下游传递。
平板显示与触摸屏：在玻璃基板投入光刻、CFOG/FOG等精细工艺之前，确保其表面无尘、无纤维附着，是减少Mura缺陷、提升良率的基石。
精密光学元件：对于相机模组镜片、激光器窗口等元件，L3SQ能在组装前揭示附着物，保障最终成像质量与光学性能。
高光表面加工：在高档金属面板、玻璃盖板出厂终检中，它是发现细微划痕、指印和颗粒的利器，守护产品的外观完1美度。
在质量就是生命的精密制造领域，“可能干净"的代价我们无法承受。CSC Dust Finder L3SQ通过科学的暗场照明原理，将表面洁净度的判定从一种依赖经验的“估测"，转化为一种基于可视化证据的“确定"。
它给出的，不是又一个模糊的选项，而是一个清晰的答案。当您再次面对“晶圆/玻璃基板真的干净吗？"这一核心质控问题时，让L3SQ成为您值得信赖的最终裁决者。
