在化工、冶金、电子等核心工业领域，气体水分含量是影响生产安全、产品质量与设备寿命的关键隐形指标。过多水分可能导致催化剂中毒、金属氧化锈蚀、电子元件性能失效等一系列问题，造成严重生产损失。日本 SHINYEI 推出的 TDLAS T-1 露点水分仪，凭借可调谐二极管激光吸收光谱技术的核心优势，实现跨行业通用的高精度水分测控，成为守护工业生产全流程的可靠伙伴。
核心技术：TDLAS 光谱法，突破传统测量局限
SHINYEI T-1 的核心竞争力源于可调谐二极管激光吸收光谱（TDLAS）技术，这一技术彻1底摆脱了传统测量方法的诸多弊端。其原理是通过特定波长的激光精准捕捉水分子的特征吸收信号，基于 Lambert-Beer 定律定量计算水分含量，测量过程不受其他气体组分干扰，实现真正的特异性检测。
相较于冷镜法的高维护成本、金属氧化物电容法的稳定性不足，以及石英晶体法的抗腐蚀能力薄弱等问题，TDLAS 技术无需区分霜点与露点，避免了过冷现象对数据的影响，在复杂工况下仍能保持稳定精准的测量表现。同时，仪器气体接触部分采用高耐腐蚀性结构设计，可从容应对化工行业的腐蚀性混合气体、冶金行业的高温含尘气体等严苛环境，从根源上解决了传统仪器易污染、寿命短的痛点。
关键性能：精准快速，适配多行业严苛需求
宽域量程 + 超高精度，覆盖全场景测量
T-1 的标准测量范围达 - 70 至 20°C 露点温度，完1美匹配不同行业的湿度控制需求：电子行业超净间的极低露点监测、化工生产中原料气体的湿度把控、冶金行业保护气体的水分检测等场景均能全覆盖。其测量精度更是行业领1先，20°C 露点以下时精度可达 ±0.2°C 露点温度或 ±2ppm（以较大者为准），20°C 露点及以上时精度为 ±(0.2×DP/20)°C 露点温度，能够捕捉微量水分变化，为工艺调整提供精细化数据支撑。
极速响应 + 便捷操作，提升生产效率
在工业生产中，水分含量的快速变化需要仪器及时捕捉。T-1 在 - 50°C 至 0°C 露点区间的 90% 响应时间仅需 6 秒以内，在 25°C 环境下 10% 至 90% 相对湿度的 63% 响应时间仅 2 秒，远超传统仪器响应速度，可实现水分变化的实时监测与预警。
仪器采用全封装设计，内置真空泵，无需复杂安装调试，只需将管道插入即可启动测量。搭配 5 英寸直观触摸屏，参数设置、数据查看一目了然，即使在工业现场复杂环境下，操作人员也能快速上手。同时支持模拟输出（4~20mA，0~5VDC）、数字输出（RS-232）及报警输出，可直接对接 DCS 或 PLC 系统，实现与生产控制系统的无缝集成。
行业适配：全场景覆盖，守护生产关键环节
化工行业：保障工艺稳定与安全
化工生产中，原料气体的水分含量直接影响反应效率与产品质量。例如乙烯生产中，水分会导致铂催化剂中毒；氯化物生产时，湿度过高会生成废酸影响品质。T-1 可精准监测空气、氮气、氧气等多种气体及混合气体的水分含量，抗腐蚀性设计能应对化工领域的腐蚀性气体，有效避免管道堵塞、设备腐蚀等问题，为连续生产提供安全保障。
冶金行业：防止金属氧化与设备损耗
在钛、不锈钢等合金的焊接、热处理过程中，保护气体（如氩气、氦气）的水分含量控制不当会导致金属氧化，影响产品性能；高湿环境还会造成金属材料锈蚀，增加生产成本。T-1 支持氩气、氦气等保护气体的高精度测量，快速响应能力可及时发现水分超标问题，避免因气体湿度异常导致的生产缺陷，延长设备使用寿命。
电子行业：护航精密制造与产品可靠性
半导体、电子元件制造对环境湿度要求极为严苛，微量水分会影响半导体材料特性，导致电子元件短路、性能失效。T-1 的极低露点测量能力可满足电子超净间等场景的严苛需求，±2ppm 的高精度能精准控制保护气体的水分含量，配合数据记录与监测功能，实现生产过程的质量追溯，保障电子产品的可靠性与良率。
数据管理：智能化赋能精益生产
除了现场测量与实时报警，T-1 还支持专用软件的数据记录与监测功能，可在 PC 端实现测量数据的存储、分析与追溯，满足工业生产的质量控制需求。通过对水分数据的长期追踪，企业能够优化工艺参数、预判设备状态，实现精益生产管理。多种电源规格可选的设计，也让仪器能够适配不同地区的工业供电环境，进一步提升了应用灵活性。
从化工车间的反应釜气体监测，到冶金现场的焊接保护气控制，再到电子工厂的超净间环境管控，SHINYEI T-1 露点水分仪以技术革新打破行业壁垒，用精准、稳定、可靠的性能守护工业生产每一个关键环节。选择 T-1，就是选择为生产安全筑牢防线，为产品质量保驾护航。
