电子元器件检测利器：Sumita LS-L109 以高照度解决微小缺陷识别难题

在电子制造业迈向微型化、高集成度的今天，元器件封装尺寸已从0603、0402演进至0201甚至更小的008004。对于AOI（自动光学检测）设备而言，这意味着需要识别的缺陷——如微小划痕、锡珠残留、焊点裂纹、元件移位——已经细微到人眼难以分辨的程度。在这样的背景下，光源的性能直接决定了检测系统的“视力"上限。

日本住田光学（Sumita Optical Glass）推出的LS-L109高功率LED光源，正是为解决这一难题而生。它以惊人的700,000 lx超高照度、智能化的远程控制能力以及长达30,000小时的使用寿命，重新定义了电子元器件检测领域的光源标准。

超高照度：让微小缺陷无所遁形

在电子元器件检测中，照度不足会导致图像对比度下降，使得细微缺陷淹没在噪点之中。LS-L109的核心突破在于其特殊聚光设计——通过反光杯与菲涅尔透镜的组合，在50mm工作距离下，搭配φ10mm导光束，可实现高达700,000 lx的平均照度。

这一数据意味着什么？相当于传统150W卤素光源的2.5倍亮度。对于检测人员而言，这意味着：

• 微米级划痕清晰可辨：即便是芯片表面细微的线路损伤，也能在充足光照下呈现高对比度图像

• 焊点缺陷无处隐藏：虚焊、冷焊、锡珠等缺陷的特征更加鲜明，大幅提升AOI设备的检出率

• 多类型元件兼顾：从高反射率的金属引脚到吸光的黑色塑封体，LS-L109都能提供充足的光照余量

真实显色：避免误判的关键

在电子制造中，颜色差异往往是判断品质的重要依据——焊点的氧化变色、阻容元件的色环识别、PCB板面的污染痕迹，都需要光源能够真实还原物体本来的色彩。

LS-L109的显色指数 CRI > 90，色温稳定在约6,500K，接近日光色温。这意味着：

• 色彩还原真实：元件颜色、焊点色泽与实际目视效果高度一致，减少因光源色偏导致的误判

• 光谱连续稳定：直流点亮方式彻1底消除频闪，保障图像采集的稳定性和重复性.

智能控制：无缝对接自动化产线

现代电子制造产线追求的是“无人化"和“智能化"。LS-L109在设计之初就充分考虑了与自动化系统的集成需求，提供了三种远程调光方式：

1. 以太网控制：支持8位数字调光，可实现μs级响应，与产线PLC或上位机实时联动

2. 8位数字调光：通过数字信号精确控制亮度输出

3. 0-5V模拟调光：可根据客户需求定制，兼容各类控制系统

这意味着，当产线切换不同型号的产品时，LS-L109可以自动调整至预设的最1佳亮度，无需人工干预，真正实现“随需而变"。

此外，LS-L109内置了全面的异常报警功能——LED温度异常、LED状态异常、风扇异常均可实时监控并输出报警信号。对于24小时连续运行的电子制造车间而言，这无疑是稳定生产的重要保障。

稳定长效：降低维护成本

传统卤素光源的一大痛点在于寿命短、更换频繁——不仅增加耗材成本，更会造成产线停机。LS-L109采用高可靠性LED芯片，设计寿命达约30,000小时。

以三班倒连续生产计算，这意味着3年以上无需更换光源。相比需要频繁更换灯泡的卤素灯，LS-L109在光源生命周期内可为用户节省可观的维护成本和停机损失。

灵活适配：兼容多种导光束

电子元器件检测场景多样，有的需要大面积均匀照明，有的需要点状高光照明。LS-L109可适配住田标准φ5、φ8、φ10、φ14、φ16 mm等多种规格的石英或多成分玻璃导光束，光耦合效率高达85%以上。无论您需要哪种照明形式，LS-L109都能灵活匹配。

技术规格一览

典型应用场景

• AOI自动光学检测：PCB板、IC芯片、精密连接器的外观缺陷检测

• 半导体封装检测：晶圆表面划痕、污染物的高倍显微镜检查

• SMT贴片质量检查：焊点质量、元件偏移、立碑等缺陷识别

• 精密零部件尺寸测量：配合机器视觉系统进行高精度尺寸标定

结语

在电子元器件检测领域，“看得清"是“判得准"的前提。Sumita LS-L109以700,000 lx的超高照度、CRI > 90的真实显色、智能化的远程控制以及30,000小时的长效寿命，为电子制造业提供了一双真正的“火眼金睛"。

如果您正在寻找一款能够驾驭0201及更小元件的检测光源，如果您希望提升AOI设备的检出率、降低产线维护成本，那么LS-L109无疑是您的理想选择。