| 机型 | 核心定位 | 功率 | 标准亮度 | 照射规格 | 核心优势 |
|---|---|---|---|---|---|
| UIH‑1C | 小面积高精检测 | 15V 150W | 60 万 lux | φ40mm/180mm | 超高亮度、小光斑，极1致捕捉微缺陷 |
| UIH‑2C | 中面积通用均衡 | 100V 300W | 40 万 lux | φ70mm/200mm | 亮度与面积兼顾，适配多数工位 |
| UIH‑3C | 大面积高效筛查 | 100V 650W | 30 万 lux | φ100mm/270mm | 大光斑覆盖，提升批量检测效率 |
半导体：抛光晶圆雾度、微划痕、微小尘点，掩膜玻璃表面瑕疵检测。
光学元件：小型镜头、棱镜、光纤接头的表面微划痕、内部杂质识别。
精密电子：硬盘基板、微型元器件的微米级缺陷目视确认。
推广价值：
中心亮度达60 万 lux，配合非球面透镜，激发强丁达尔效应，1μm 以下微气泡、微划痕清晰显形，解决常规光源漏检难题；自立式支架，适配实验室、研发质检、小批量高精抽检工位，是高精尖小件检测的黄金选择。
消费电子：手机盖板玻璃、摄像头镜片、导光板的表面划痕、内部气泡快速抽检。
光学组件：中型透镜、滤光片、石英玻璃的表面 + 内部缺陷同步观测。
新材料：透明树脂、高洁净容器的杂质、裂纹、内壁异物检测。
推广价值：
40 万 lux中心亮度 +φ70mm 标准光斑，兼顾检测精度与覆盖效率；SCR 相位调光、50/60Hz 自动适配，满足多材质切换需求；独立支架 + 完1善散热，适配产线连续作业，是中小尺寸工件批量检测的通用主力，覆盖 80% 常规精密检测场景。
半导体：大尺寸晶圆、面板级掩膜玻璃的表面瑕疵、整体平整度检测。
显示行业：LCD/OLED 面板、大尺寸光学玻璃的快速全检，提升产线效率。
高1端制造：航空航天、汽车精密组件的大面积表面缺陷筛查。
推广价值：
φ100mm 大光斑，一次覆盖更大面积，减少移动次数，检测效率提升 50% 以上；搭载过热监控（约 130℃强制熄灯）、冷却自动停机，适配长时间高强度产线作业；30 万 lux中心亮度，兼顾大面积覆盖与缺陷识别力，是大尺寸工件高效质检的最1优解。
小尺寸高精件（晶圆、微型镜头）→ 选UIH‑1C，抓微缺陷不遗漏。
中小尺寸通用件（盖板玻璃、中型透镜）→ 选UIH‑2C，均衡高效性价比高。
大尺寸面板 / 晶圆 → 选UIH‑3C，大面积覆盖提速增效。
研发 / 来料抽检：UIH‑1C 做高精判定。
产线批量全检：UIH‑2C 做主力通用。
大尺寸终检：UIH‑3C 做高效筛查。
三款联动，实现从研发到量产、从小件到大件的全链条品质管控，降低多设备采购成本。
技术统一：丁达尔效应 + 定制卤素灯 + 非球面透镜，缺陷可视化。
稳定统一：缓启缓灭、强制风冷、过热保护，延长光源寿命，降低运维成本。
适配统一：多角度调节、宽幅调光，兼容透明 / 不透明材质全场景检测。
UIH‑1C 守高精检测底线，微缺陷无所遁形；
UIH‑2C 担产线主力重任，通用高效性价比拉满；
UIH‑3C 掌大面积检测效率，大工件快速过关。
