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从PCB到晶圆检测:艾泰克LLBK1系列多波长可选,轻松应对高反射材质微痕挑战

发布时间:2026-08-06 点击量:35

在精密制造领域,PCB线路板的线路短路、晶圆表面的纳米级划痕、金属镜面抛光的细微凹坑——这些高反射材质上的微小缺陷,历来是视觉检测的“老大难"。传统光源要么亮度不足,要么在镜面反射下产生大面积过曝,让微痕“藏"在眩光之下。

艾泰克(AITEC)LLBK1系列高亮度LED光纤光源,以多波长可选+超高照度+紧凑机身的组合,正成为破解这一难题的关键方案。

一、核心挑战:高反射材质为何难检?

PCB裸板、晶圆、金属镀膜等材质具有高镜面反射特性。当光线照射时,反射光会直接进入相机,造成局部过曝,掩盖划痕、凹陷等微弱信号。传统做法是采用低角度暗场照明或同轴照明来压制眩光,但往往需要在光源亮度与角度之间做妥协。

LLBK1系列的解题思路是:用足够高的亮度“压过"反射干扰,同时用多波长选择来“匹配"不同材质的反射特性。

二、技术底气:小体积如何迸发大能量?

LLBK1系列的照度数据说明了一切

波长版本照度(lx)典型功耗(W)适用场景
白光(W)125,000140PCB通用检测、常规外观检查
绿光(G)230,000100金属划痕、高反射表面微痕
红光(R)52,00080深色材质、穿透性照明
蓝光(B)16,000100浅层缺陷、短波长散射增强

绿光版本高达23万勒克斯的照度,在压制金属镜面眩光方面具有天然优势——绿光在金属表面反射率较低,能将表面细微凹凸转化为清晰的明暗梯度。而白光版本12.5万勒克斯的输出,相比传统光源提升约25%,足以应对多数PCB检测场景

三、多波长策略:一种光源,多种解法

不同材质对光的响应截然不同。LLBK1系列提供的多波长选项,让AOI设备可以在不更换硬件的情况下,通过波长切换来适配不同检测对象

  • 绿光——高反射金属件的“抑眩能手":对于铝制压铸件、镜面金属表面,绿光的低反射率可有效减少镜面眩光,让微米级划痕在灰度图像中凸显出来

  • 白光——PCB与晶圆的“全能选手":12.5万勒克斯高亮度与全光谱特性,适合裸铜线路、焊点、晶圆表面的一般性缺陷检测,提供接近人眼观察习惯的照明效果

  • 蓝光——浅层缺陷的“轮廓勾勒师":短波长蓝光在粗糙表面发生瑞利散射,能增强亚表面浅层缺陷(如晶圆表面的微污染、PCB防焊层下的线路异常)的轮廓对比

  • 红光——深色与穿透场景的“特长生":对硅材料、深色封装体具有较好的穿透性,适合检测芯片封装内部的裂纹或空洞。

四、场景落地:从PCB AOI到晶圆检测

PCB板AOI检测

PCB线路密集,铜箔与基板反射率差异大,且空间狭窄。LLBK1主机仅110mm见方、重1.4kg,可轻松集成于AOI设备内部。白光或绿光版本配合Φ8~14mm大口径光纤束,能为线阵相机提供稳定、高亮的光照,让微短路、线宽超差、划痕等缺陷无所遁形

晶圆与芯片检测

晶圆表面高度平整,镜面反射极1强。绿光版本(23万勒克斯)的低反射特性在此场景优势明显——能有效减少过曝,让纳米级划痕与颗粒物呈现清晰对比。配合1000级精密调光,可根据不同晶圆材质(硅、GaAs、SiC等)微调光强,实现最1优成像

金属/玻璃材质外观检测

对于汽车零部件、玻璃面板等高反射工件,LLBK1系列的多波长选项让“一种光源、多种材质"成为可能。例如,不锈钢表面用绿光抑制反光,玻璃内部气泡用红光穿透照明,大幅提升检测系统的柔性

五、不止于亮:可靠性与控制的“软实力"

高亮度之外,LLBK1系列在工业现场的可靠性同样关键:

  • 寿命与散热:LED标称寿命≥40,000小时,配合轴流风扇强制散热,支持7×24小时连续运行

  • 控制方式:支持机身旋钮、RJ45网口远程调光、M3端子外部信号触发,便于集成到自动化产线

  • 供电灵活:标配DC24V工业直连,可选配AC适配器用于实验室独立使用

结语

从PCB到晶圆,从金属到玻璃,高反射材质的微痕检测始终是对光源亮度、波长选择性与体积的三重考验。艾泰克LLBK1系列以多波长版本覆盖不同材质需求、超高照度压制镜面眩光、紧凑机身适配狭小空间,为精密视觉检测提供了一套“光谱适配"的解题方案。当微痕不再被眩光掩盖,良率提升才有了可靠的“光"的基础。