日本napson手动非接触式涡流法电阻测量仪

产品型号： EC-80

所属分类：

产品时间：2024-09-07

简要描述：日本napson手动非接触式涡流法电阻测量仪EC-80
紧凑且易于操作的手动非接触式（涡流法）电阻测量仪

详细说明：

日本napson手动非接触式涡流法电阻测量仪EC-80

测量目标

半导体/太阳能电池相关材料（硅，多晶硅，SiC等）
新材料/功能材料相关（碳纳米管，DLC，石墨烯，银纳米线等）
导电薄膜相关（金属，ITO等）
硅基外延，离子与
半导体相关的进样样品化合物（GaAs Epi，GaN Epi，InP，Ga等）
其他（*请与我们联系）

测量尺寸

〜8英寸，或〜156x156mm

日本napson手动非接触式涡流法电阻测量仪EC-80

测量范围

[电阻] 1m至200Ω·cm
（*所有探头类型的总范围/厚度500um）
[抗页电阻] 10m至3kΩ / sq
（*所有探头类型的总范围）

*有关每种探头类型的测量范围，请参阅以下内容。
（1）低：0.01至0.5Ω/□（0.001至0.05Ω-cm）
（2）中：0.5至10Ω/□（0.05至0.5Ω-cm）
（3 ））高：10至1000Ω/□（0.5至60Ω-cm）
（4）S-高：1000至3000Ω/□（60至200Ω-cm）