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无损管内表面粗糙度测量仪技术-无损内表面测量仪“Arasamir”基本原理是在小直径管中插入比小直径管的内径小的管子（内径为φ0.5mm至φ1.5mm），并获得内表面图像的亮度信息。并预先获得表面粗糙度和亮度，并根据测量数据的相关性计算出表...
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日本高温観察装置-日本米仓制作yonekura[通用规格]在所有阵容中都可以观察加热情况炉体的封闭结构可在任何大气中加热（大气中加热，气流，真空）可以进行高速加热/冷却，在1000°C或更低的温度下（取决于条件），可以以50°C/秒的速度加...
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日本用于半导体行业的高精度非接触式测厚仪OZUMA22半导体（各种材料）的晶片硅Si.GaAs砷化镓等，玻璃，金属，化合物等的高精度非接触式厚度测量（非接触式厚度测量）1.1。可以通过空气背压法进行非接触式厚度测量（非接触式厚度测量），并且...
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日本用于实验和研究的紫外线简易曝光装置UV-2000MT可与2000W金属卤化物灯和汞灯互换，支持多种波长，是实验和研究的理想选择。型式UV－2000MTサイズ本体450（W）×450（D）×450（H）㎜電源450（W）×450（D）×2...
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日本san-eielectric三荣新款LED紫外线固化光源的差异性继传统的UV光纤光源（使用汞灯）之后，我们提供了使用LED的UV固化系统（固化设备）。与传统产品相比，主机可以保持较低的价格，并且通过使用LED还可降低运行成本。峰值波长3...
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日本seiwaopt近红外卤素灯光源技术SIS-150（-NIR/-AIR）近红外辐射设备一种在近红外区域具有峰值的光纤光源设备。通过将其与专yong光学系统和对近红外区域敏感的相机配合使用，它非常适合无损检测，例如Si晶圆的内部检测和背面...
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日本环氧树脂收缩应力测量技术大量的半导体封装被安装在诸如移dong电话和膝上型计算机之类的信息终端设备中使用的半导体产品上。些半导体封装中，IC芯片用作为热固性树脂的环氧树脂密封，填充在IC芯片和印刷电路板之间并固化，这对于确保电子部件的强...
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什么是停止性能测量设备？日本inoden井上电子IDST-D型停止性能测量设备是一种用于测量并显示具有突然停止机构的动力压床突然停止时的最大停止时间以及此时的惯性下降值的设备。特征易于设置，可以快速工作。读取机器行程并自动设置停止输出位置。...
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日本电测densoku多点同时测量涡流膜厚仪技术多点同時測定渦電流式膜厚計本体1台で多点を同時に測定します。多点同時測定渦電流式膜厚計の特長・多点を同時に測定・測定時間3秒・50～100点の同時測定が可能多点同時測定渦電流式膜厚計製品一...
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日本伊原电子ihara黑白透射式密度计T5plus介绍IharaT5Plus是一款黑白透射密度计，内置小型光台，可以准确定位。可测量密度、正网点%、负网点%和透射率。IharaT5Plus透射密度计特点：测量胶片，薄膜材料等密度测量范围：0...
