在工业精密检测领域，测量精度与效率往往决定着产品质量的高度。一款能够在常温状态下快速精准测量各种材料红外发射率的仪器，无疑是科研与生产过程中的得力助手。
日本JapanSensor TSS-5X-3红外放射率测试仪就是这样一款广泛应用于工业检测的红外放射率（发射率）测试仪，其以性能和便捷的操作，为半导体、航天、核电等领域的材料研究与质量管控提供了有力支持。
TSS-5X-3采用红外探测反射能量测量方法，能够在室温环境下快速、方便地测量各种材质的放射率。
其测定波长范围覆盖2～22μm，宽广的波长范围使其能够适应多种材料的检测需求。
仪器测量范围覆盖放射率0.00～1.00，测量精度高达±0.01以内，这种高精度确保了能够量化材料表面处理的细微变化。
TSS-5X-3设计注重用户体验，其LED数位显示使测量结果一目了然，简化了读数过程。
仪器配备了固定测量距离（12mm）和测定面积（Φ15mm），通过检测头基座固定方式，减少了人为操作误差。
标配放射率0.06和0.97基准片各一片，确保了校准的准确性和测量的可靠性。用户无需加热样品，即可在室温下轻松获得准确数据。
TSS-5X-3的应用领域极为广泛，适用于各种研究机关、生产线的场景。
在半导体产业，该仪器用于半导体材质的放射率研究测量，对芯片制造过程中的材料特性控制至关重要。
航天领域借助其进行材料表面处理之微小变化数值化，确保航天材料在环境下的热性能稳定性。
在钢铁产业，钢铁厂利用该设备进行材料检测与研发，优化生产工艺。
核电产业同样依赖于TSS-5X-3的高精度测量，确保核电站关键材料的热性能符合安全标准。
它还用于蓄热、断热材料的放射率测量，为节能材料的研发提供数据支持。
TSS-5X-3支持AC100~240V宽电压输入，适应全球不同国家的电源标准。
其设计考虑了便携性，主机重约2.8Kg，探测头重0.6Kg，并配有专用的收纳箱，方便移动携带和现场检测。
| 参数项目 | 技术规格与性能指标 |
|---|---|
| 测定波长 | 2～22μm |
| 测定范围 | 放射率0.00～1.00 |
| 测量精度 | ±0.01以内 |
| 测定面积 | Φ15mm |
| 测定距离 | 12mm（通过检测头基座固定） |
| 材料温度 | 10～40℃（室温） |
| 数值显示 | LED数位显示 |
| 输出 | 0～0.1V；0～1V Full-Scale |
| 环境温度 | 10～45℃ |
| 环境湿度 | 35～85％（无结露状态） |
| 电源 | AC100~240V, 50/60Hz |
| 尺寸与质量 | 本体H156 x W306 x D230 mm, 2.8Kg；探测头Φ51 X L137 mm, 0.6Kg |
| 标准配件 | 放射率0.06, 0.97基准片各一片，收纳箱一个 |
*表：TSS-5X-3红外放射率测试仪核心规格参数*
日本JapanSensor TSS-5X-3红外放射率测试仪凭借其高精度测量能力、简便的操作流程和广泛的应用领域，已成为众多工业检测场合的理想选择。
无论是用于材料研发、生产工艺优化，还是产品质量控制，TSS-5X-3都能提供可靠的数据支持，帮助用户量化材料表面处理的微小变化，助力技术创新和产品升级。
TSS-5X-3以其高精度测量、常温快速检测和广泛的应用领域，成为材料科学、半导体、航天核电等工业领域不可少的检测工具。
其全球电源适配能力和便携性设计，更使其成为跨国企业和移动检测需求的理想选择。选择TSS-5X-3，意味着选择精准、高效与可靠。
