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日本napson非接触式JIS法硅锭寿命测定仪

日本napson非接触式JIS法硅锭寿命测定仪

产品型号: HF-100DCA

所属分类:

产品时间:2020-09-18

简要描述:日本napson非接触式JIS法硅锭寿命测定仪HF-100DCA
以硅块,JIS tanzaku形状和晶锭状态(单晶/多晶硅)测量样品
直流方式接触测量
通过示波器和PC进行数据处理(专用软件)

详细说明:

日本napson非接触式JIS法硅锭寿命测定仪HF-100DCA

 

产品特点

  • 以硅块,JIS tanzaku形状和晶锭状态(单晶/多晶硅)测量样品
  • 直流方式接触测量
  • 通过示波器和PC进行数据处理(专用软件)

测量规格

测量目标

硅锭,硅块,JIS tanzaku形状

测量尺寸

硅锭,JIS tanzaku形状(请联系我们)

测量范围

约50μS至20 mS

日本napson非接触式JIS法硅锭寿命测定仪HF-100DCA

产品特点

  • 以硅块,JIS tanzaku形状和晶锭状态(单晶/多晶硅)测量样品
  • 直流方式接触测量
  • 通过示波器和PC进行数据处理(专用软件)

测量规格

测量目标

硅锭,硅块,JIS tanzaku形状

测量尺寸

硅锭,JIS tanzaku形状(请联系我们)

测量范围

约50μS至20 mS



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